傳輸線測量是對用於傳送短波和超短波電磁能量的傳輸線的電性能參數進行的測量。包括衰減、駐波比（或行波係數），反射係數和阻抗等的測量。傳輸線包括架空明線和同軸電纜。
基本介紹
- 中文名：傳輸線測量
- 外文名：transmission line measurements
定義
傳輸線測量是對用於傳送短波和超短波電磁能量的傳輸線的電性能參數進行的測量。
衰減測量
衰減測量是指由於傳輸線存在電阻和漏電阻，饋線上的入射波和反射波沿線將發生衰減，使發射機端的反射係數值總小於天線端的反射係數值。對於架空明線，可用帶有熱偶電流表的測量回線分別測出發射機端和天線端的行波係數K1和K2，即可求出饋線的總衰減。
對於同軸傳輸線，可用通過式功率計分別測出發射機端和天線端的輸入功率P1和P2，由
求出饋線的總衰減。式中β為衰減係數，dB/m；l為饋線長度，m。
駐波比、反射係數和阻抗測量
駐波比、反射係數和阻抗測量指的是傳輸線的阻抗和反射係數一般不直接測量，而是通過測量沿線的電壓分布，得出電壓駐波比（或行波係數）和電壓最小點（波節點）的位置，再用阻抗圓圖求得。對短波頻段架空明線，駐波比的測量可用帶有熱偶電流表的測量回線在架空明線上移動，測出饋線上電壓最大值和最小值，其比即為駐波比，由此求出行波係數、反射係數和輸入阻抗（見短波天線測量）。也可用高頻阻抗電橋或阻抗圖示儀以平衡法測量饋線阻抗。
同軸線阻抗測量可以在信號源和待測饋電系統之間串接隔離器和同軸測量線，測量饋線上的駐波比
，則饋線的反射係數為
。因為測量線和待測饋線之間有一段同軸連線線，測量線標尺的起點又是任意的，第一個波節點到待測饋線輸入端的距離×。可根據饋線上電壓分布的λ/2重複性來確定，即先將待測饋線輸入端短路，在測量線上找一個波節點a作為參考點如圖1所示。a點相當於饋線輸入端。再把待測饋線接入，測量駐波比及與a點相鄰的波節點b的位置，則節點距：×0=b—a。
根據駐波比S和節點距：×0用阻抗圓圖即可得待測饋線的輸入阻抗。
同軸線阻抗也可用阻抗圖示儀或駐波測量儀測量（見線天線測量）。
20世紀70年代後期出現的自動網路分析儀，採用微機控制，利用反射計可在很寬頻帶內進行動態測量，測出網路全部散射參量（S參數）的幅度和相位值，並能用計算機消除儀器主要系統誤差，能快速、精確測量和顯示待測系統的駐波比、反射係數和阻抗。
特性阻抗測量
特性阻抗測量是指用已知的負載阻抗ZL（50Ω、75Ω或300Ω）接在四分之一波長傳輸線上，用阻抗電橋、測量線或網路分析儀測得其輸入阻抗，則傳輸線的特性阻抗Z0為。
絕緣電阻與直流電阻的測量
饋線的絕緣電阻一般用大於或等於500V的兆歐表測量，測量前需將饋線的負載斷開，再測量線間及對地兩項絕緣指標。饋線直流電阻測量前需將饋線負載處短路，始端加上數伏左右直流電源，用電流表、電壓表進行測量。
