電子能譜方法

電子能譜方法是研究電子能量分布及其套用的方法。樣品受到某些射線的激發而發射出電子，這些電子隨著能量的不同在數量上呈現出一種統計分布，這種分布稱為能譜圖。電子能譜圖是分析物質結構的有效手段。例如用單色X射線可激發出樣品的內殼層電子，其能量為Et=Ex-B。EX為X射線能量，B為該電子的結合能。由於假電子的禁止，內殼層電子的結合能B依賴於物質的化學鍵和價殼層的總電子數。因此，內殼層電子的能量與原子間的化學鍵及其化學環境有關。由此可見，內殼層電子的能譜分析是研究化學鍵和進行化學分析的有效手段。

X射線也能激發出外殼層電子，對檢測輕重元素都相當有效。用X射線作為激發源的電子能譜，稱為X光電子能譜。此外，用紫外光作為激發源的稱為紫外光電子能譜，它特別適用於外層電子的激發，能獲得直接反映分子特徵的價層光電子能譜。用電子射線槍作為激發源的稱為俄歇(Auger)電子能譜，它對檢測原子序數小於33以下的輕元素有較高的靈敏度。