光刻膠三維效應

光刻膠三維效應

光刻膠三維效應是由於入射到光刻膠表面的不同入射角的光線對應的折射角不同而導致的最佳聚焦位置偏差引起的。

基本介紹

  • 中文名:光刻膠三維效應
  • 外文名:Resist 3D Effect
在積體電路光刻工藝中,曝光光線匯聚在光刻膠上,實施曝光。然而,入射到光刻膠表面的光束會發生折射,不同入射角對應的折射角不一樣,導致不同入射角的光線匯聚在光刻膠內部的不同位置,如圖1所示。這種光刻膠折射導致的聚焦位置偏差與光刻膠的光學參數(折射率,消光係數)以及光線的入射角有關。
光刻膠三維效應
圖1 曝光光線在光刻膠內的折射示意圖

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