雷射燒蝕電感耦合電漿質譜法又稱雷射取樣等離子質譜（LS-ICPMS）、雷射探針電漿質譜（LP-ICPMS），是將電感耦電漿質譜法（ICPMS）與雷射取樣相結合而形成的一種高靈敏度的多元素快速分析新技術。
基本介紹
- 中文名：雷射燒蝕電感耦合電漿質譜法
- 外文名：laser ablation inductive-ly coupled plasma mass spectrometry（LA-ICPMS）
- 學科：岩礦分析與鑑定
- 解釋：多元素快速分析新技術
釋文：又稱雷射取樣等離子質譜（LS-ICPMS）、雷射探針電漿質譜（LP-ICPMS），是將電感耦電漿質譜法（ICPMS）與雷射取樣相結合而形成的一種高靈敏度的多元素快速分析新技術。雖然它也可以對固體樣品直接進行整體分析，但人們更感興趣的是將其作為一種功能強大的微區痕量原位分析手段。與其他一些微區痕量分析技術相比，其具有更高的靈敏度（特別是對痕量稀土元素），並能同時分析同位素和進行多元素的深度分布分析；與二次離子質譜（SIMS）相比，其分析成本低得多。本方法的主要弱點是其空間解析度還在20～50微米水平，這在微區分析的許多套用方面受到限制，但發展極為迅速。最受人關注的套用是在微區年代學方面（鋯石微區定年）。
