| 中文名稱 | 雷射探針質譜計 |
| 英文名稱 | laser probe mass spectrometer |
| 定 義 | 利用雷射束作為探針，使固體試樣蒸發和電離，從而進行質譜分析的質譜計。 |
| 套用學科 | 機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），質譜儀器-質譜儀器儀器和附屬檔案（三級學科） |
| 中文名稱 | 雷射探針質譜計 |
| 英文名稱 | laser probe mass spectrometer |
| 定 義 | 利用雷射束作為探針，使固體試樣蒸發和電離，從而進行質譜分析的質譜計。 |
| 套用學科 | 機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），質譜儀器-質譜儀器儀器和附屬檔案（三級學科） |
中文名稱 雷射探針質譜計 英文名稱 laser probe mass spectrometer 定義 利用雷射束作為探針,使固體試樣蒸發和電離,從而進行質譜分析的質譜計。 套用學科 機械工程...
雷射微探針質譜分析又稱雷射微探針質譜的儀器分析。利用雷射束照射樣品使產生氣化和離子化,再用質譜儀進行檢測的微區分折技術。...
中文名稱 雷射微探針質譜法 英文名稱 laser microprobe mass spectrometry 定義 用聚焦雷射束照射樣品表面產生離子的質譜分析法。雷射束可聚焦至微米量級,可獲得微...
分為火花源質譜儀、離子探針質譜儀、雷射探針質譜儀、輝光放電質譜儀、電感耦合電漿質譜儀。火花源質譜儀不僅可以進行固體樣品的整體分析,而且可以進行表面和逐層...
基質輔助雷射解吸飛行時間質譜儀(MALDI-TOFMS),傅立葉變換質譜儀(FT-MS)無機質譜儀,包括:① 火花源雙聚焦質譜儀。② 感應耦合電漿質譜儀(ICP-MS)。
雷射燒蝕電感耦合電漿質譜法又稱雷射取樣等離子質譜(LS-ICPMS)、雷射探針電漿質譜(LP-ICPMS),是將電感耦電漿質譜法(ICPMS)與雷射取樣相結合而形成的...
最早的質譜成像技術是基質輔助雷射解吸電離(MALDI,matrix assisted laser desorption ionization)質譜分子成像技術,由范德堡大學(VanderbiltUniversity)的Richard Caprioli...
無機質譜儀可以分為火花源質譜儀、離子探針質譜儀、雷射探針質譜儀、輝光放電質譜儀、電感耦合電漿質譜儀。無機質譜儀測試速度快,結果精確。無機質譜儀廣泛用於...
無機化質譜儀主要用於無機元素微量分析和同位素分析等方面。分為火花源質譜儀、離子探針質譜儀、雷射探針質譜儀、輝光放電質譜儀、電感耦合電漿質譜儀。火花源質譜...
常用下列三種生物質譜技術:1)基質輔助雷射解吸電離飛行時間質譜(matrixassistedlaserdesorptionionizationtimeofightMs,MALDITOF-MS)。此方法的原理是將樣品與小分子基質(...
第二部分,也是本冊書的主要部分,分別從實驗和使用角度描述了輝光放電質譜、二次離子質譜、雷射微探針質譜、加速器質譜和同位素稀釋質譜的基本原理、實驗方法和主要...
在FIM樣品尖端疊加脈衝電壓或脈衝雷射使原子電離並蒸發。原子探針工作圖用飛行時間質譜儀測定離子的質量/電荷比來確定該離子的種類,用位置敏感探頭確定原子的位置。它...
分為火花源質譜儀、離子探針質譜儀、雷射探針質譜儀、輝光放電質譜儀、電感耦合電漿質譜儀。火花源質譜儀不僅可以進行固體樣品的整體分析,而且可以進行表面和逐層...
1985年Benninghoven研究團隊又將雷射-SNMS裝置整合到TOF-SIMS儀器中。可以說,基於Prof. Beninghoven教授(明斯特大學原物理系主任,國際二次離子質譜協會主席)的理念,...
建立和發展以離子探針質譜和雷射探針質譜為代表的的原位微區同位素地質年代學和同位素地球化學測試技術,趕上國際研究發展趨勢。1) 建立和發展鈾系不平衡法、10Be法...
建立和發展以離子探針質譜和雷射探針質譜為代表的的原位微區同位素地質年代學和同位素地球化學測試技術,趕上國際研究發展趨勢。1) 建立和發展鈾系不平衡法、10Be法...
離子探針分析儀能提供無機地質樣品的微量元素和同位素成分數據,檢出限約為1ppm。雷射探針能給出無機和有機地質樣品和同位素組成信息,檢出限為1～10ppm。原子探針能...