《X射線衍射技術及其套用》是由華東理工大學出版社於2010年8月1日出版發行的圖書，作者姜傳海、楊傳錚。
基本介紹
- 書名：X射線衍射技術及其套用
- 作者：姜傳海，楊傳錚
- ISBN：9787562827788
- 頁數：260
- 定價：￥48.00
- 出版社：華東理工大學出版社
- 出版時間：2010年8月1日
- 裝幀：平裝
- 開本：16
編輯推薦,內容簡介,作者簡介,目錄,
編輯推薦
本書對於X射線衍射的實驗技術和數據分析方法進行了比較系統完整的介紹。書中除敘述X射線衍射的基本原理和方法概貌外，儘可能將查到的有關最新文獻介紹給讀者。
內容簡介
全書共13章，主要內容包括X射線物理學基礎、X射線衍射方向、X射線強度、X射線衍射方法、多晶物相分析、晶體結構與點陣參數分析、應力測量與分析、衍射譜線形分析、多晶織構測量和單晶定向以及在薄膜和一維超點陣材料、聚合物高分子材料、納米材料、介孔材料分析中的套用。
作者簡介
姜傳海，現擔任中國物理學會X射線衍射專業委員、中國晶體學會粉末衍射專業委員、中國機械工程學會理化檢驗分會委員、中國儀器學會高速分析專業委員、全國殘餘應力專業委員及秘書長等。
目錄
第1章 X射線物理學基礎
1.1 X射線衍射分析發展簡史
1.2 X射線本質及其波譜
1.2.1 X射線本質
1.2.2 X射線譜
1.3 X射線與物質相互作用
1.3.1 X射線散射
1.3.2 X射線真吸收
1.3.3 X射線衰減規律
1.3.4 X射線吸收效應的套用
1.4 X射線防護
練習題
第2章 X射線衍射方向
2.1 晶體幾何學
2.1.1 晶體結構
2.1.2 晶體投影
2.1.3 倒易點陣
2.2 布拉格方程
2.2.1 布拉格方程
2.2.2 布拉格方程的討論
2.2.3 倒易空間中的衍射條件
2.3 厄瓦爾德圖解
2.3.1 厄瓦爾德圖解
2.3.2 厄瓦爾德圖解示例
練習題
第3章 X射線衍射強度
3.1 單個晶胞散射強度
3.1.1 單個電子散射強度
3.1.2 單個原子散射強度
3.1.3 單個晶胞散射強度
3.2 單個理想小晶體散射強度
3.2.1 干涉函式
3.2.2 衍射疇
3.3 實際多晶體衍射強度
3.3.1 實際小晶粒積分衍射強度
3.3.2 實際多晶體衍射強度
3.3.3 多晶體衍射強度計算方法
練習題
第4章 X射線衍射方法
4.1 照相法
4.1.1 德拜一謝樂法
4.1.2 聚焦法
4.1.3 『孔法
4.2 衍射儀法
4.2.1 測角儀
4.2.2 計數器
4.2.3 單色器
4.3 測量條件
4.3.1 試樣要求
4.3.2 影響測量結果的因素
4.3.3 測量條件示例
練習題
第5章 多晶物相分析
5.1 標準卡片及其索引
5.1.1 卡片介紹
5.1.2 索引方法
5.2 定性物相分析
5.2.1 手工檢索
5.2.2 計算機檢索
5.2.3 其他問題
5.3 定量物相分析
5.3.1 基本原理
5.3.2 分析方法
5.3.3 其他問題
練習題
第6章 晶體結構與點陣參數分析
6.1 晶體結構識別
6.1.1 基本原理
6.1.2 立方晶系指標化
6.1.3 其他問題
6.2 點陣參數測定
6.2.1 德拜法誤差來源
6.2.2 衍射儀法誤差來源
6.2.3 消除系統誤差方法
6.3 晶體結構模型分析
6.3.1 原理與方法
6.3.2 其他問題
練習題
第7章 應力測量與分析
7.1 測量原理
7.1.1 內應力分類
7.1.2 測量原理
7.2 測量方法
7.2.1 測量方式
7.2.2 試樣要求
7.2.3 測量參數
7.3 數據處理方法
7.3.1 衍射峰形處理
7.3.2 定峰方法
7.3.3 誤差分析
7.4 三維應力及薄膜應力測量
7.4.1 三維應力測量
7.4.2 薄膜應力測量
練習題
第8章 衍射譜線形分析
8.1 譜線寬化效應及卷積關係
8.1.1 幾何寬化效應
8.1.2 物理寬化效應
8.1.3 譜線卷積關係
8.2 譜線寬化效應分離
8.2.1 強度校正與K。雙線分離
8.2.2 幾何寬化與物理寬化的分離
8.2.3 細晶寬化與顯微畸變寬化的分離
8.3 非晶材料X射線分析
8.3.1 徑向分布函式
8.3.2 結晶度計算
8.4 小角X射線散射分析
8.4.1 基本原理
8.4.2 吉尼葉公式及套用
練習題
第9章 多晶織構測量和單晶定向
9.1 多晶體織構測量
9.1.1 織構分類
9.1.2 極圖及其測量
9.1.3 反極圖及其測量
9.1.4 三維取向分布函式
9.2 單晶定向
9.2.1 單晶勞厄相的特點
9.2.2 單晶定向方法
練習題
第10章 薄膜和一維超點陣材料的X射線分析
10.1 薄膜分析中常用的X射線方法
10.1.1 低角度X射線散射和衍射
10.1.2 掠入射X射線衍射
10.1.3 粉末衍射儀和薄膜衍射儀
10.1.4 雙晶衍射儀和多重晶衍射儀
10.1.5 其他方法
10.2 原子尺度薄膜的研究
……
第11章 聚合物和高分子材料的X射線分析
第12章 納米材料的X射線分析
第13章 介也材料的X射線分析
附錄
參考文獻
1.1 X射線衍射分析發展簡史
1.2 X射線本質及其波譜
1.2.1 X射線本質
1.2.2 X射線譜
1.3 X射線與物質相互作用
1.3.1 X射線散射
1.3.2 X射線真吸收
1.3.3 X射線衰減規律
1.3.4 X射線吸收效應的套用
1.4 X射線防護
練習題
第2章 X射線衍射方向
2.1 晶體幾何學
2.1.1 晶體結構
2.1.2 晶體投影
2.1.3 倒易點陣
2.2 布拉格方程
2.2.1 布拉格方程
2.2.2 布拉格方程的討論
2.2.3 倒易空間中的衍射條件
2.3 厄瓦爾德圖解
2.3.1 厄瓦爾德圖解
2.3.2 厄瓦爾德圖解示例
練習題
第3章 X射線衍射強度
3.1 單個晶胞散射強度
3.1.1 單個電子散射強度
3.1.2 單個原子散射強度
3.1.3 單個晶胞散射強度
3.2 單個理想小晶體散射強度
3.2.1 干涉函式
3.2.2 衍射疇
3.3 實際多晶體衍射強度
3.3.1 實際小晶粒積分衍射強度
3.3.2 實際多晶體衍射強度
3.3.3 多晶體衍射強度計算方法
練習題
第4章 X射線衍射方法
4.1 照相法
4.1.1 德拜一謝樂法
4.1.2 聚焦法
4.1.3 『孔法
4.2 衍射儀法
4.2.1 測角儀
4.2.2 計數器
4.2.3 單色器
4.3 測量條件
4.3.1 試樣要求
4.3.2 影響測量結果的因素
4.3.3 測量條件示例
練習題
第5章 多晶物相分析
5.1 標準卡片及其索引
5.1.1 卡片介紹
5.1.2 索引方法
5.2 定性物相分析
5.2.1 手工檢索
5.2.2 計算機檢索
5.2.3 其他問題
5.3 定量物相分析
5.3.1 基本原理
5.3.2 分析方法
5.3.3 其他問題
練習題
第6章 晶體結構與點陣參數分析
6.1 晶體結構識別
6.1.1 基本原理
6.1.2 立方晶系指標化
6.1.3 其他問題
6.2 點陣參數測定
6.2.1 德拜法誤差來源
6.2.2 衍射儀法誤差來源
6.2.3 消除系統誤差方法
6.3 晶體結構模型分析
6.3.1 原理與方法
6.3.2 其他問題
練習題
第7章 應力測量與分析
7.1 測量原理
7.1.1 內應力分類
7.1.2 測量原理
7.2 測量方法
7.2.1 測量方式
7.2.2 試樣要求
7.2.3 測量參數
7.3 數據處理方法
7.3.1 衍射峰形處理
7.3.2 定峰方法
7.3.3 誤差分析
7.4 三維應力及薄膜應力測量
7.4.1 三維應力測量
7.4.2 薄膜應力測量
練習題
第8章 衍射譜線形分析
8.1 譜線寬化效應及卷積關係
8.1.1 幾何寬化效應
8.1.2 物理寬化效應
8.1.3 譜線卷積關係
8.2 譜線寬化效應分離
8.2.1 強度校正與K。雙線分離
8.2.2 幾何寬化與物理寬化的分離
8.2.3 細晶寬化與顯微畸變寬化的分離
8.3 非晶材料X射線分析
8.3.1 徑向分布函式
8.3.2 結晶度計算
8.4 小角X射線散射分析
8.4.1 基本原理
8.4.2 吉尼葉公式及套用
練習題
第9章 多晶織構測量和單晶定向
9.1 多晶體織構測量
9.1.1 織構分類
9.1.2 極圖及其測量
9.1.3 反極圖及其測量
9.1.4 三維取向分布函式
9.2 單晶定向
9.2.1 單晶勞厄相的特點
9.2.2 單晶定向方法
練習題
第10章 薄膜和一維超點陣材料的X射線分析
10.1 薄膜分析中常用的X射線方法
10.1.1 低角度X射線散射和衍射
10.1.2 掠入射X射線衍射
10.1.3 粉末衍射儀和薄膜衍射儀
10.1.4 雙晶衍射儀和多重晶衍射儀
10.1.5 其他方法
10.2 原子尺度薄膜的研究
……
第11章 聚合物和高分子材料的X射線分析
第12章 納米材料的X射線分析
第13章 介也材料的X射線分析
附錄
參考文獻
