X射線衍射分析技術

X射線衍射分析技術

《X射線衍射分析技術》是2008年國防工業出版社出版的圖書,作者是晉勇孫小松薛屺

基本介紹

圖書信息,內容簡介,圖書目錄,

圖書信息

I S B N:9787118057782
包 裝:平裝

內容簡介

本書內容包括X射線物理學基礎、晶體和空間點陣、X射線衍射方向、X射線衍射強度、X射線衍射方法、X射線物相分析、點陣常數的精確測定、巨觀殘餘應力的測定、晶粒尺寸和微觀應力的測定、全譜擬合與Rietveld精修原理和計算軟體等共10章及附錄。
本書可作為大學材料與工程科學專業本科生、研究生教學用書,也可作為相關專業科技人員的參考書。

圖書目錄

緒論
第1章 X射線物理學基礎
1.1 x射線的產生及其性質
1.2 x射線譜
1.3 x射線與物質的相互作用
1.4 x射線的衰減規律及其套用
1.5 x射線的探測與防護
習題
第2章 晶體和空間點陣
2.1 晶體的概念
2.2 對稱結構與點陣
2.3 晶胞、晶系和空間點陣形式
2.4 陣點坐標、晶向指數、晶面指數和晶面間距
2.5 倒易點陣
2.6 晶體的投影
2.7 晶帶和晶體的標準極圖
2.8 晶體的對稱性
2.9 點群
2.1 0空間群
2.1 1晶體的外形
2.1 2晶體結構符號
習題
第3章 X射線衍射方向
3.1 勞厄方程
3.2 布拉格方程
3.3 衍射矢量方程和厄瓦爾德圖解
3.4 X射線衍射實驗方法概述
習題
第4章 X射線衍射強度
4.1 晶胞中原子位置與衍射線束強度間的關係
4.2 一個電子的散射
4.3 一個原子的散射
4.4 一個晶胞對x射線的散射
4.5 影響衍射強度的幾種因子
4.6 粉末晶體衍射強度計算
習題
第5章 X射線衍射方法
5.1 X射線源
5.2 測角儀
5.3 單色器
5.4 輻射探測器
5.5 測量系統
5.6 試樣的製備方法
5.7 儀器條件的準備
5.8 具體實驗條件的選定
5.9 衍射數據採集和數據處理的自動化
習題
第6章 X射線物相分析
6.1 物相定性分析原理
6.2 粉末衍射資料庫
6.3 定性相分析的一般步驟
6.4 物相定量分析
習題
第7章 點陣常數的精確測定
7.1 X射線衍射圖譜指標化
7.2 利用計算機和專業軟體進行指標化
7.3 晶胞參數的精確測定
7.4 精確測定晶胞參數的方法
7.5 點陣常數精確測定的套用
7.6 利用專用軟體計算晶格常數
習題
第8章 巨觀殘餘應力的測定
第9章 晶粒尺寸和微觀應力的測定
第10章 全譜擬合與Rietveld精修原理和計算軟體
附錄1 質量吸收係數
附錄2 原子散射因子
附錄3 角因子(洛倫茲-偏振因子)
參考文獻

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