PCD(光電導衰退)

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PCD(光電導衰退),用來測試單晶矽少數載流子壽命的一種方法。

基本介紹

  • 中文名:PCD
  • 類型:滅菌術語
PCD:photoconductivity decay 光電導衰退 英文:Process Challenge Device,簡寫:PCD 其中“過程”一詞特指“滅菌過程”定義 過程挑戰裝置:是對滅菌過程構成預定抗力的裝置,用於評價滅菌過程的有效性。(引用來源——“滅菌術語”ISO11139:2006)

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