IC卡檢測儀是使用X射線技術對IC卡進行檢測的一種設備，能夠有效反映IC卡內部狀況。
基本介紹
- 中文名：IC卡檢測儀
- 儀器重量：70kg
- 電 壓：AC220V±5%
- 功 率：35W
簡介,基本信息,
簡介
X射線IC卡檢測儀
X射線IC卡檢測儀是使用X射線技術對IC卡進行檢測的一種設備，它通過發生X射線，對IC卡進行射線照射，再由設備的成像探測器接收經過照射並穿過IC卡後的X射線，並通過計算機呈現黑白的透視檢測畫面。
專用的X射線IC卡檢測儀到2013年為止業內有HSCreate(恆勝創新)的BJI-G型。
X射線IC卡檢測儀用途：檢測IC磁卡內部的電路、晶片內部焊點、內部導體結構。 IC卡檢測儀參數
型號 | HSCreate BJI-G |
管電壓 | 70kV |
管電流 | 0.4mA |
解析度 | 227Lp/cm |
像元尺寸 | 1628*1228px |
灰度等級 | 4600級 |
功率 | 70W |
IC卡扭彎測試儀 IC卡扭矩測試儀 IC卡彎曲測試儀 IC卡彎曲試驗機 IC卡試驗機 IC卡彎曲性能測試機 IC扭矩測試儀本儀器針對性IC卡在國標16649.1等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗;外形尺寸：L670 X W380 X H220
本儀器針對性IC卡在國標16649.1等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗;
基本信息
外形尺寸：L670 X W380 X H220
測試速度：彎曲 29r/min
測試周期：1~999次
扭曲度 ：15°±1° 雙向
