聯合測試行為組織英文為Joint Test Action Group該組織成立於1985 年，是由幾家主要的電子製造商發起制訂的PCB 和IC 測試標準。JTAG 建議於1990 年被IEEE 批准為IEEE1149.1-1990 測試訪問連線埠和邊界掃描結構標準。
基本介紹
- 中文名：聯合測試行為組織
- 外文名：Joint Test Action Group
- 成立於：1985年
介紹,結構功能,一些說明,
介紹
該標準規定了進行邊界掃描所需要的硬體和軟體。自從1990 年批准後，IEEE 分別於1993 年和1995 年對該標準作了補充，形成了現在使用的IEEE1149.1a-1993 和IEEE1149.1b-1994。JTAG 主要套用於：電路的邊界掃描測試和可程式晶片的在系統編程。
JTAG也是一種國際標準測試協定（IEEE 1149.1兼容），主要用於晶片內部測試。現在多數的高級器件都支持JTAG協定,如DSP、FPGA器件等。標準的JTAG接口是4線：TMS、TCK、TDI、TDO,分別為模式選擇、時鐘、數據輸入和數據輸出線。 相關JTAG引腳的定義為：TCK為測試時鐘輸入；TDI為測試數據輸入，數據通過TDI引腳輸入JTAG接口；TDO為測試數據輸出，數據通過TDO引腳從JTAG接口輸出；TMS為測試模式選擇，TMS用來設定JTAG接口處於某種特定的測試模式；TRST為測試復位，輸入引腳，低電平有效。GND
TI還定義了一種叫SBW-JTAG的接口，用來在引腳較少的晶片上通過最少的利用引腳實現JTAG接口，它只有兩條線，SBWTCK，SBWTDIO。實際使用時一般通過四條線連線，VCC，SBWTCK，SBTDIO，GND，這樣就可以很方便的實現連線，又不會占用大量引腳。
JTAG最初是用來對晶片進行測試的,基本原理是在器件內部定義一個TAP（Test Access Port測試訪問口）通過專用的JTAG測試工具對進行內部節點進行測試。JTAG測試允許多個器件通過JTAG接口串聯在一起,形成一個JTAG鏈,能實現對各個器件分別測試。現在，JTAG接口還常用於實現ISP（In-System Programmable;線上編程），對FLASH等器件進行編程。
JTAG編程方式是線上編程，傳統生產流程中先對晶片進行預編程現再裝到板上因此而改變，簡化的流程為先固定器件到電路板上，再用JTAG編程,從而大大加快工程進度。JTAG接口可對PSD晶片內部的所有部件進行編程。
結構功能
在硬體結構上，JTAG 接口包括兩部分：JTAG 連線埠和控制器。與JTAG 接口兼容的器件可以是微處理器（MPU）、微控制器（MCU）、PLD、CPL、FPGA、ASIC 或其它符合IEEE1149.1 規範的晶片。IEEE1149.1 標準中規定對應於數字積體電路晶片的每個引腳都設有一個移位暫存單元，稱為邊界掃描單元BSC。它將JTAG 電路與核心邏輯電路聯繫起來，同時隔離核心邏輯電路和晶片引腳。由積體電路的所有邊界掃描單元構成邊界掃描暫存器BSR。邊界掃描暫存器電路僅在進行JTAG 測試時有效，在積體電路正常工作時無效，不影響積體電路的功能。
一些說明
通常所說的JTAG大致分兩類，一類用於測試晶片的電氣特性，檢測晶片是否有問題；一類用於Debug；一般支持JTAG的CPU內都包含了這兩個模組。
上面說的只是JTAG接口所具備的能力，要使用這些功能，還需要軟體的配合，具體實現的功能則由具體的軟體決定。
