相差顯微鏡檢術

相差顯微鏡檢術是一種特殊的顯微觀察技術。如果一個吸光很少的無色標本（如無色素的活細肚）在光學上同其周圍的介質不同，就可以用相差顯微術觀察到。

這樣的標本產生的一級衍射光線在相位上比零級(未偏離)光線延遲約四分之-波長Etl}a,a.s，弧度》.振幅也較小.這兩束光線干涉，產生與標本周圍區域光線的振幅相似的圖象形成波。圖像形成波在相位上同圖象周圍區域的光波輕微地不同.然而。肉眼不能分辨在相位上的差別，光波的}}幅 C強度)又相似，在普通顯微鏡上就看不到圖像。相差顯微鏡的聚光鏡在其前焦面有一環形視窗.使光線的空心錐體在位於物鏡後焦面的相位板上聚焦成為小光環。相位板為一小圈玻片，玻片上旦環形沉積著一圈物質(通常為氟化鎂)，其厚度剛好使透過這圈物質的光在祖位上延遲1}4},沒有樣品時，所有入射光都聚焦在環上.並透過它。檢查標本時，零級光線和背景光線透過相位環，一級和較高級的衍射光則透過相位環以外的部位。在圖象平面上，零級和較高級的光線發生相長千涉，使圖象形成波的振幅大於背景光波的振幅，產生可見圖象。在相位環上沉積一薄層吸光的金屬，使背景和零級光線的振幅減小.可增強背景與圖象形成波之間的強度差。 上述方法為負相差顯微術，零級光線比一級光線延遲ilah,標本顯得亮於背景.在正相差顯微術中，零級光線比一級光線提前l/林，兩者產生相消干涉.使標本顯得暗於背景。