晶體結構測定方法

晶體結構測定方法，crystal structure determination，即利用晶體 X射線衍射可測定晶體結構。但衍射實驗只能測得衍射強度（即結構振幅）而測不到相角，這樣就不可能直接從強度得到晶體結構數據，而要利用其他方法。

基本介紹

• 中文名：晶體結構測定方法
• 外文名：crystal structure determination
• 方式：用晶體 X射線衍射可測定晶體結構
• 測試方法： 直接法 模型法

測試方法

直接法

直接從實驗得到X射線強度,利用一系列數學處理，推引出結構因子的相角，實現了直接和自動化測定晶體結構，成為當前測定中小分子結構的主流方法。

模型法

試差法（模型法）利用晶體的對稱性和其他性質以及結構規則，對所研究的結構提出合理的模型，然後從理論上計算晶體的衍射強度，再把計算值與實驗值進行比較，多次修正模型，使計算值與實驗值儘可能符合。

發展歷程

20世紀30年代A.L.帕特森提出利用結構振幅的平方作為傅立葉級數的係數，進行傅立葉計算，得到帕特森函式圖。在圖上，峰的位置表示晶胞內原子間向量的位置，分析該圖提供的信息，特別是當結構中存在少數重原子的情況下，可以直接推出晶體結構。60年代出現了可供套用的直接法。