晶體測量

晶體測量（goniometry）又稱“晶體測角”。是指測量晶體各晶面間的夾角以恢復晶體幾何形態的一種方法。晶體測量的主要儀器是雙圈反射測角儀。

基本介紹

• 中文名：晶體測量
• 外文名：goniometry
• 又稱：晶體測角
• 測量內容：測量晶體各晶面間的夾角
• 意義：晶體結構分析及探討形成條件
• 測量儀器：雙圈反射測角儀。

釋義

晶體測量（goniometry）又稱“晶體測角”。測量晶體各晶面間的夾角以恢復晶體理想幾何形狀的一種方法。晶體測量的儀器是晶體測角儀。所測晶體要求晶面發育良好。根據測得的數據先作出極射赤平投影圖或心射極平投影圖,確定對稱要素和單形,經過計算求出晶面符號和軸率,最後繪成晶體的頂視圖和立體圖。

測量方法

晶體測量的主要儀器是雙圈反射測角儀。所測晶體大小以2—5毫米最為合適，晶面要求平滑，有光澤。根據測得數據先作出極射赤平投影圖或心射極平投影圖，確定對稱要素和單形，經過計算求出晶面符號和軸率，最後繪成晶體的頂視圖和立體圖。晶體幾何形態的研究對於晶體結構分析及其形成條件的探討有一定的意義。對於晶形發育良好的未知礦物，晶形測量也可為精確鑑定礦物提供基本數據。