掠射角x射線衍射法

掠射角x射線衍射法 glancing angle x-ray diffraction採用T掠射角幾何條件(人射角;s0)的x射線衍射法。以掠射角人射的x射線束的穿透力被限制，大大提高了分析樣品的表面分析靈敏度，且能分析體積相對較大的樣品，甚至薄層分析也成為可能。該技術適用於特殊晶相的識別，微晶方位及其尺寸分布的研究，吸附原子位置的測定;與電子衍射法相比_具有較高的角解析度。