《掃描探針顯微技術理論與套用》是2007年化學工業出版社出版的圖書，作者是彭昌盛、谷慶寶。
基本介紹
- 書名：掃描探針顯微技術理論與套用
- 作者：彭昌盛 谷慶寶
- ISBN：9787122000453
- 定價：35.00 元
- 出版社：化學工業出版社
- 出版時間：2007年04月
- 開本：16開
內容簡介,圖書目錄,
內容簡介
掃描探針顯微鏡自20世紀80年代初出現以來，在短短20年的時間裡，一直是各國科學家的研究熱點，並迅速發展成為一個含20多個品種的龐大顯微鏡家族。
本書共分七章，依次向讀者展現：
顯微鏡的發展歷史；
系統介紹掃描隧道顯微鏡、原子力顯微鏡和掃描近場光學顯微鏡等掃描探針顯微鏡的主要成員；
扼要介紹磁力顯微鏡、靜電力顯微鏡等其他類掃描探針顯微鏡；
闡述掃描探針顯微鏡使用過程中可能遇到的一些問題及相應的處理方法；
論述掃描探針顯微鏡在各方面的套用。
本書可供顯微鏡專業操作和研究人員閱讀，也可以作為納米材料、生命科學、醫學等專業領域的教材及相關研究人員的參考書。
圖書目錄
第1章 顯微鏡的發展歷史1
第2章 掃描隧道顯微鏡22
第3章 原子力顯微鏡53
第4章 掃描近場光學顯微鏡86
第5章 其他掃描探針顯微鏡118
第6章 掃描探針顯微鏡的問題及解決方法138
第7章 掃描探針顯微鏡的套用183
參考文獻220
