磁力顯微術

磁力顯微術是指利用磁性探針與樣品間的磁互動作用去取得表面磁化結構的一種掃描探針顯微術 。

基本介紹

• 中文名：磁力顯微術
• 外文名：scanning probe microscopy, SPM
• 原理：用磁性探針與樣品間的磁互動作用
• 最早套用時間：1987 年

磁力顯微術的概念

磁力顯微術是指利用磁性探針與樣品間的磁互動作用去取得表面磁化結構的一種掃描探針顯微術 (scanning probe microscopy, SPM)，在 1987 年時， Martin 及

Wickramasinghe 首先利用原子力顯微術 (atomic force microscopy, AFM) 的非接觸式操作模式，將一根經過化學腐蝕的鐵針磁化過後彎曲作為磁性探針，然後在薄膜磁頭上觀察到第一個 MFM 影像，不過 Martin 兩人所得到的只有磁力影像，而無法得到表面結構，並且探針製備較為繁複，經過這十餘年來發展，這些缺點已被克服。一個磁性樣品，其除了表面磁化結構也有表面幾何結構，將AFM 的探針鍍上磁性薄膜，然後利用輕敲式的操作模式得到樣品表面的型態影像，在取得某點的高度之後，將探針拉高到一固定距離，然後在量測探針振頻或相位等變化，得到磁力影像。