基本介紹
理論提出背景
離子氛的特性
- 動態結構:每個離子既是中心離子,又屬於其他離子氛,且離子氛結構隨時間動態變化。
- 電中性對稱:無外加電場時,離子氛呈球形對稱分布,總電荷與中心離子電性相反。
德拜厚度(Debye thickness),用符號d表示,是德拜-休克爾理論中描述離子氛有效半徑的核心參數。該理論由P.J.W.德拜和E.休克爾於1923年提出,用於解釋電解質溶液中離子的相互作用:中心離子周圍異種電荷離...
這是德拜-休克爾理論的核心觀點,d常稱為德拜厚度或離子氛厚度。溶液中陰、陽離子共存,根據庫侖定律,同性離子相斥,異性離子相吸。離子在靜電作用力的影響下,趨向於如同離子晶體那樣規則地排列,而離子的熱運動則力圖使它們均勻地分散在溶液中。這兩種力相互作用的結果,使得在一定的時間間隔內平均來看,在任意一...
德拜-休克爾理論假設溶劑為連續介質,忽略離子間短程力,僅考慮靜電力作用,並引入離子氛厚度(德拜厚度)參數簡化靜電作用分析。溶液中每個離子既是中心離子又是其他離子氛的組成部分,在外電場作用下,離子氛與中心離子的遷移產生鬆弛力牽製作用。當溶液無限稀釋時,離子氛的鬆弛力消失。ion atmosphere;ion cloud 認為在...
認為在一個離子(中心離子)、周圍,異號離子應占優勢,其分布服從Poisson靜電公式和F'xItmann統計規則,有如彌散的,很快淡化的雲霧。離子氛對於中心離子(電荷為熟)的作用可以簡化為相當於一個半徑為d的荷電〔一二*〕空心圓球的作用:這是德拜一休克爾理論的核心觀點.d常稱為德拜厚度或離子氛厚度。
德拜禁止效應規定當系統空間尺度超過德拜長度時,局部電荷分離導致電勢呈指數衰減,其特徵長度λD=(ε₀k_BT_e/e²n_e)^{1/2},與電子溫度T_e和密度n_e直接相關。在電漿與邊界接觸區域,鞘層作為淨電荷薄層,其厚度通常為3-5倍德拜長度,是電荷分離的典型巨觀表現。動力學特徵 激子遷移研究構建了...
即德拜禁止。德拜長度即這個禁止層的厚度。因此需要氣體足夠稠密,以致λD遠小於L;德拜禁止效應是指電漿有一種消除內部靜電場的趨勢,這種效應是帶電粒子通過改變其空間位置的組合而產生的 (2) 德拜球中間的粒子數要大於1,通常電漿應該是遠大於1的。(3) 在電漿中電磁力占據主要作用。
謝樂公式又名Scherrer公式,Debye-Scherrer 德拜-謝樂公式,是由荷蘭著名化學家德拜和他的研究生謝樂首先提出的,是xrd分析晶粒尺寸的著名公式。試樣引起的寬化又包括晶塊尺寸大小的影響、不均勻應變(微觀應變)和堆積層錯(在衍射峰的高角一側引起長的尾巴)。D取平均值的問題,如果是大角度衍射,最好取衍射峰...
引入德拜長度(λD=√(εrε0RT/2F²I))量化雙電層有效厚度 通過Zeta電位表征擴散層電勢分布特徵 關鍵影響因素 電解質濃度:濃度每增加10倍,雙電層厚度壓縮約3倍 離子價態:高價反荷離子(如Ca²⁺)比單價離子(如Na⁺)更顯著壓縮雙電層 溫度作用:溫度升高降低溶液介電常數,導致表面電勢上升與...
特徵X射線是一種波長很短(約為0~0.06nm)的電磁波,能穿透一定厚度的物質,並能使螢光物質發光、照相乳膠感光、氣體電離。在用電子束轟擊金屬“靶”產生的X射線中,包含與靶中各種元素對應的具有特定波長的X射線,稱為特徵(或標識)X射線。考慮到X射線的波長和晶體內部原子間的距離相近,1912年德國物理學家勞厄...
如設電介質表面積為A,厚度為d,極化電荷面密度為σ',則電介質兩個表面積累的正、負電荷所形成的感應偶極矩:方向由負電荷指正電荷,單位為C·m(庫侖·米)或D(德拜,1D=3.33 × 10C·m),由於這個物理量與電介質的幾何參數有關,用它來表示電介質極化的大小並不十分方便。為此,引入一個新的物理量...
根據德拜理論,極性分子在極化弛豫過程中的弛豫時間τ與外加交變電磁場極性改變的角頻率ω有關,在微波段時有ωτ = 1的結果。我國工業微波爐加熱設備常用的微波工作頻率為915 MHz和2450 MHz,根據計算,其τ約為10~10 s數量級。因此,微波能在物料內轉化為熱能的過程具有即時特徵。整體性 通常情況
10.1.1 德拜一謝樂法 10.1.2 聚焦法 10.1.3 針孔法 10.2 衍射儀法 10.2.1 測角儀 10.2.2 計數器 10.2.3 單色器 10.3 測量條件 10.3.1 試樣要求 10.3.2 影響測量結果的因素 10.3.3 測量條件示例 第11章 多晶物相分析 11.1 標準卡片及其索引 11.1.1 卡片介紹 11.1.2 索引方法 1...
雙電層力(英語:double layer forces)是表征雙電層相互作用的物理量,表現為帶電體之間由離子分布差異產生的滲透壓,其力程與德拜長度同量級,作用強度隨表面電荷密度或電勢的增加而增大。同種電荷間表現為指數衰減的排斥力,異種電荷在較小間距時可能形成吸引力。DLVO理論通過結合雙電層力和范德瓦耳斯力,可估算...
6.1德拜法142 6.1.1德拜法原理142 6.1.2德拜相機144 6.1.3德拜照片的計算與標定145 6.1.4其他照相方法148 6.2衍射儀法150 6.2.1測角儀151 6.2.2探測器153 6.2.3控制和數據處理系統158 6.2.4晶體單色器160 6.2.5衍射儀161 6.3衍射圖樣的獲得164 6.3.1試樣製備要求164 6.3.2衍射全圖...
靶子採用金屬鉍,真空蒸發至厚度為30μg/cm²的碳膜上(鉍層厚度大約為450μg/cm²)。為了防止靶子的飛濺(sputtering),再在其表面覆蓋一層碳膜(厚度為10μg/cm²)。實驗時將16塊靶子固定在30 cm直徑的轉輪上,轉輪在照射期間以2000r/min的速度轉動。Zn離子束流是從日本理化所的直線加速器(RILAC)上...
1923年荷蘭物理學家P.德拜提出了強電解質溶液中形成“對稱離子氛”,造成“電泳力”的理論,解釋了強電解質表觀未體現完全電離的原因。1926年挪威物理學家L.昂薩格將德拜的理論加以改造,提出了適用於二元強電解質當量電導的公式,使電離理論更加完善。伏打電堆(或自發電池)會自發地提供電能的事實,通過電離理論的...
4.2.6德拜休克爾極限定律99 4.2.7德拜體克爾翁薩格電導理論100 4.2.8Ostwald稀釋定律101 4.2.9可逆電池的表示方法101 4.2.10熱力學與電化學的關係式102 4.2.11能斯特方程——可逆電極電勢與各組分活度的關係103 4.2.12能斯特方程——可逆電池電動勢與各組分活度的關係103 4.2.13金屬在電極...
射線分析,粗晶環區為不均勻的細小顆粒,有時其中還夾有不規則的大晶粒,除在德拜環上有大量的斑點外,還有大的勞埃斑點,這說明該區域是再結晶結構加少量的再結晶的大晶粒組織。(5)粗晶環區與中心區的電阻率和晶格常數不同,棒材邊部的電阻率比中心的高,而品格常數則邊部的比中心的低。(6)邊部具有再結...
3.3.3德拜禁止和德拜半徑 3.3.4電漿振盪和振盪頻率 3.3.5電漿鞘層理論 3.4太空飛行器帶電 3.4.1電漿環境非偏置固體表面帶電 3.4.2電漿環境下孤立導體表面充電時域特性 3.5電漿環境材料起電仿真軟體 第4章太空飛行器表面帶電基礎理論 4.1概述 4.2表面帶電電流分析 4.2.1空間電漿的...
432德拜弛豫與介電損耗89 433化學鍵的電偶極矩91 44介電材料92 441介電材料的分類92 442介電材料的特性參數93 443有耗介電材料95 444無耗或低耗介電材料100 45透波材料110 451透波原理110 452無機透波材料113 453有機透波材料與有機無機透波...
2.3.4德拜模型104 2.4半導體的激發與發光109 2.4.1直接帶隙半導體和間接帶隙半導體109 2.4.2半導體輻射複合發光類型110 2.5半導體納米材料的量子效應113 2.5.1量子尺寸效應114 2.5.2介電限域效應114 2.5.3量子隧穿效應115 2.5.4庫侖阻塞效應116 2.6納米材料的發光機理研究117 2.6.1量子限制發光模型118
731德拜法中的系統誤差 732衍射儀中的系統誤差 74精確測定點陣常數的方法 741定峰方法 742圖解外推法 743最小二乘方法 744標準樣校正法 75點陣常數精確測定 751測角儀固有誤差 752測角儀零位面的調整誤差 753試樣表面偏軸誤差 754試樣平面性...
第7單元X光技術295 引言295 實驗71德拜謝樂粉末法296 實驗72勞厄照相法測定單晶取向305 實驗73X射線衍射法測定多晶材料的晶格常數315 第8單元低溫物理323 引言323 實驗81變溫霍爾效應324 實驗82小型制冷機及其製冷技術333 實驗83超導材料的電阻溫度特性測量340 實驗84巨磁電阻效應的測量347 ...
4.13.2薄膜厚度的測定/127 4.13.3薄膜應力的測定/128 4.13.4薄膜織構分析/129 4.14層錯能的測定/129 4.14.1複合層錯機率Psf的測定/129 4.14.2層錯能的計算/130 本章小結/131 思考題/134 第5章電子顯微分析基礎 5.1電子波的波長/137 5.2電子與固體物質的作用/138 5.2.1電子散射/...
實驗6.1X射線衍射——德拜法 實驗6.2X射線衍射——勞厄法 實驗6.3物相分析 第七章電子顯微技術 實驗7.1透射電子顯微鏡 實驗7.2掃描電子顯微鏡 第八章低溫和真空技術 實驗8.1低溫的獲得與溫度的測量 實驗8.2低溫熱容的測量 實驗8.3高真空的獲得和檢漏 實驗8.4真空鍍膜 實驗8.5氣體放電電漿特性的研究 ...
實驗6.26不同厚度的膜的顏色414 實驗6.27光纖通信416 實驗6.28雷射準直417 實驗6.29裝飾莫爾條紋421 實驗6.30二面鏡422 實驗6.31超聲光柵424 實驗6.32*光柵、稜鏡光譜儀426 實驗6.33*超導性(測高溫超導體的轉變溫度)429 實驗6.34*順、抗、鐵磁性介質在非均勻磁場中的行為431 實驗6.35空間濾波434 實...
引言 實驗6-1反射式速調管的工作特性 實驗6-2波導管的工作狀態 實驗6-3微波的干涉與衍射 實驗6-4微波鐵氧體材料的介電常數與介電損耗角正切的測量 實驗6-5微波衰減量測量 第7單元 X光技術 引言 實驗7-1德拜謝樂粉末法 實驗7-2勞厄照相法測定單晶取向 實驗7-3X射線衍射法測定多晶材料的晶格常數 ...
通過第一原理計算結合聲子譜和德拜模型計算方法,從熱力學角度驗證了該合金中Fe14Si2和Fe15Si結構存在的可能性,同時揭示了Fe14Si2以三種結構存在。在0K下,Fe15Si能量比基態能量更低,Fe15Si在0K下可以穩定存在。Fe14Si2與基態能量大致相等,因此在0K下也可以穩定存在,並且隨著溫度的升高,其與基態能量差值...
