微電子技術的可靠性——互連、器件及系統

微電子技術的可靠性——互連、器件及系統
Reliability of microtechnology：interconnects，devices and systems

		[瑞典]Johan Liu,Olli Salmela,Jussi S?rkk?,James E.Morris,Per-Erili Tegehall,Cristina Andersson 著；郭福,馬立民 譯
		科學出版社		2013年6月出版
		定價：58.00		語種：中文
		標準書號：978-7-03-037606-0		裝幀：精裝
		版本：第一版		開本：B5
		責任編輯：牛宇鋒,湯楓		字數：226千字
		讀者對象：本科以上文化程度		頁數：179
		書類：理論專著/研究生教育		冊/包：
		編輯部： 工程技術分社
		附註：

內容簡介

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本書詳盡地介紹了電子互連繫統中可靠性的諸多基礎科學問題及測試和解決方案，涉及的概念、模型、方法等的闡述清晰易懂，並附有習題幫助讀者深入思考和理解相關的理論基礎。書中首先描述了微電子技術可靠性問題的重要性和定義，然後分別從經驗模型、物理模型以及失效的一般機制討論了系統失效的方式和測試方法，之後又分別從可靠性設計、元件和系統級可靠性的角度闡述了能夠影響微系統互連失效的相關因素，最後以質量管理為立足點介紹了保障高可靠性產品所涉及的基本環節。
本書適合作為微電子互連技術相關專業學科以及其他涉及電子產品微技術可靠性專業的高年級本科生、研究生教材，也可作為工程技術人員的參考用書。