彈道電子發射顯微鏡

利用針尖通過隧道效應將電子射入薄層，穿過薄層進入界面。以界面下的電極為收集極，測量收集極電流隨隧道電壓的變化，即可知道電子在界面的傳輸情況。

基本介紹

• 中文名：彈道電子發射顯微鏡
• 外文名：ballistic electron emission microscope
• 學科：岩礦分析與鑑定
• 簡稱：BEEM

詞目：彈道電子發射顯微鏡

釋文：這種情況與界面的肖特基勢壘高度、界面的能帶結構等有關。如做收集電流隨針尖掃描位置的變化，即可得到彈道電子發射顯微圖像，它可反映界面結構和電子態的不均勻性。電子態的不均勻性是由界面結構缺陷和界面雙元素的互擴散或化學作用形成的。