是一種正在發展的新式晶體譜儀，它由位置靈敏探測器和晶體衍射系統相結合而成。又稱X射線波長散射晶體譜儀（X-ray wavelength dispersive spectrometer），簡稱晶體譜儀（crystal spectrometer）。
基本介紹
- 中文名：平面晶體波長色散位置靈敏譜儀
- 外文名：plane-crystal wavelengthdispersive position sensitive spectrometer（PSS）
- 學科：岩礦分析與鑑定
- 用途：做元素化學態的研究和輕元素分析
利用平面晶體的散射功能，將不同入射能量的X射線衍射成一定的空間分布，採用對空間位置信號敏感的位置靈敏探測器，記錄這種空間分布的X射線，從而可實現對X射線高精度的能量分辨和探測。能量解析度已達到或接近化合物中不同元素原子間相互作用所形成的化學態引起的原子外殼層電子能級的變化，即化學位移大於或等於電子伏。探測限低，比Si（Li）探測器的最低探測限低1～2個數量級。全譜同時測量和適時顯示，不僅可見到譜的全貌，而且可同時記錄連續本底，益於定量分析。因此，PSS可用於軟X射線（100～1000電子伏）或低能X射線（小於10千電子伏）能區做元素化學態的研究和輕元素分析。正在向全元素分析、微量物質化學態分析和稀土元素微量分析及其化學態分析方向發展。
