半導體參數儀

半導體參數儀是一種用於物理學領域的科學儀器，於2015年9月17日啟用。

基本介紹

• 中文名：半導體參數儀
• 產地：美國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2015年9月17日

技術指標

4200-SCS/F半導體特性分析系統主機，2個高解析度中功率SMU 最大電流100mA，最大電壓200V，最大功率2W 4200-SMU高解析度中功率SMU（源測量單元） 最大電流100mA；最大電壓200V；最大功能2W；配置有4200-PA，擴展電流解析度至0.1fA 4200-CVU C-V測試單元，掃描頻率範圍1KHZ-10MHz。

主要功能

物理參數測量。