光電離光量計由數十焦耳能量的納秒雷射束產生的雷射電漿在真空紫外（VUV）和軟X射線區是一種強輻射源。
由數十焦耳能量的納秒雷射束產生的雷射電漿在真空紫外（VUV）和軟X射線區是一種強輻射源。這種輻射的光譜強度與時間參數的測量提供了與雷射電漿的產生機制和電漿動力學相關的信息。
由於雷射電漿輻射脈衝時間短，連續光譜上重疊許多特徵線，而且輻射強度高（排除了計數光子的可能性），使輻射參數的測量很困難。由於在VUV和軟X射線輻射範圍內能提供可靠數據的合適方法極為有限，則絕對強度的測量遇到了問題。但是，光電離光量計可以在很寬的波長範圍內（0.1nm~100nm）提供一種絕對測量輻射強度的手段。光量計是光電離室與飛行時間質譜儀的結合，利用強度和能量已知的電子束，通過電子—原子電離標定光量計，使光量計成為絕對輻射探測器。因此，光量計是基於基本的原子常數如光電離截面和電子—原子電離截面。
這種光量計已在VUV和軟X射線範圍用做輻射強度測量。
