《X射線螢光光譜儀》是2008年化學工業出版社出版的圖書，作者是羅立強、詹秀春。
基本介紹
基本信息,內容簡介,目錄,
基本信息
出 版 社： 化學工業出版社
出版時間： 2008-1-1
字 數： 237000
頁 數： 188
開 本： 16開
紙 張： 膠版紙
I S B N ： 9787122007179
包 裝： 精裝
所屬分類： 圖書 >> 工業技術 >> 儀表工業 >> 儀器
定價：￥35.00
內容簡介
本書分十二章介紹了X射線螢光光譜分析的原理，儀器主要部件，定性與定量分析方法，基體校正與數據處理方法，樣品製備技術，具有共性的儀器校正方法、日常維護知識和故障判斷原則等。內容豐富、新穎、翔實，在探測器技術、基體校正、樣品製備、儀器維護等章節具有特色。
本書可供X射線螢光光譜分析工作者學習參考，同時也可作為高等學校與儀器分析相關專業師生的參考書。
本書可供X射線螢光光譜分析工作者學習參考，同時也可作為高等學校與儀器分析相關專業師生的參考書。
目錄
第一章 緒論
第一節 X射線螢光光譜的產生及其特點
第二節 X射線螢光分析技術的新套用
一、在生物、生命及環境領域中的套用
二、在材料及毒性物品監測中的套用
第三節 X射線螢光光譜儀研製進展
參考文獻
第二章 基本原理
第一節 特徵X射線的產生與特性
一、特徵X射線
二、特徵譜線系
三、譜線相對強度
四、螢光產額
第二節 X射線吸收
一、X射線衰減
二、吸收邊
三、吸收躍變
四、質量衰減係數的計算
第三節 X射線散射
一、相干散射
二、非相干散射
第四節 X射線螢光光譜分析原理
第五節 X射線衍射分析
參考文獻
第三章 激發源
第一節 常規X射線光管
一、光管結構與工作原理
二、連續X射線譜
三、特徵X射線譜
四、光管特性
第二節 液體金屬陽極X射線光管
第三節 冷X射線光管
第四節 單色與選擇激發
一、濾光片
二、二次靶
第五節 同位素源
第六節 同步輻射光源與粒子激發
第七節 聚束毛細管X射線透鏡
第八節 X射線雷射光源
參考文獻
第四章 探測器
第一節 波長色散探測器
一、流氣式氣體正比計數器
二、NaI閃爍計數器
三、波長色散探測器的逃逸峰
第二節 能量探測器
一、能量探測原理
二、能量探測器組成與特性
三、能量探測器的逃逸峰
第三節 新型能量探測器
一、Ge探測器
二、Si?PIN探測器
三、Si漂移探測器（SDD）
四、電耦合陣列探測器（CDD）
五、超導躍變微熱量感應器（TES）
六、超導隧道結探測器（STJ）
七、CdZnTe探測器
八、鑽石探測器（CVD?D）
九、無定形矽探測器（A?Si）
第四節 各種探測器性能比較
一、波長色散與能量色散能力
二、探測器解析度比較
三、探測器的選用
參考文獻
第五章 X螢光光譜儀
第一節 波長色散X射線螢光光譜儀
一、X射線光管、探測器與光譜儀結構
二、分光晶體及解析度
三、脈衝放大器和脈高分析器
第二節 能量色散X射線螢光光譜儀
第三節 同位素源激發X射線螢光光譜儀
第四節 偏振激發X射線螢光光譜儀
第五節 全反射X射線螢光光譜儀
第六節 同步輻射X射線螢光光譜儀
第七節 聚束毛細管透鏡微束XRF光譜儀
參考文獻
第六章 定性與定量分析方法
第一節 定性分析
第二節 定量分析
一、獲取譜峰淨強度
二、干擾校正
三、濃度計算
第三節 數學校正法
第四節 實驗校正方法
一、標準化
二、內標法
三、標準添加法
四、散射線內標法
第五節 實驗校正實例——散射線校正方法
一、散射效應與利用
二、濾光片對Compton峰和分析譜線的影響
三、準直器直徑對譜線的影響
四、Compton峰位隨濾光片材料的原子序數增加而產生漂移
參考文獻
第七章基本校正71
第一節基本參數法72
一、理論螢光強度72
二、相關基本參數計算75
三、基本參數法76
第二節理論校正係數77
一、基本影響係數77
二、理論校正係數81
三、係數變換84
參考文獻85
第八章分析誤差和統計不確定87
第一節分析誤差和分布函式87
一、分析誤差87
二、分布函式88
第二節計數統計學88
第三節靈敏度、檢出限及XRF中的誤差來源89
一、靈敏度和檢出限89
二、XRF中的誤差來源90
第四節不確定度及不確定度計算90
一、測量不確定度90
二、統計不確定度91
三、誤差傳遞與不確定度91
四、不確定度計算式92
五、平均值的不確定度計算93
六、統計波動94
參考文獻94
第九章XRF中的化學計量學方法和套用96
第一節曲線擬合與遺傳算法96
一、遺傳算法97
二、遺傳算法在XRF中的套用97
三、不同擬合方法的比較98
第二節基體校正與神經網路99
一、神經網路的發展與學習規則100
二、神經網路模型——誤差反傳學習算法100
三、神經網路及相關化學計量學方法在XRF中的套用101
第三節模式識別102
一、模式識別方法與特性102
二、支持向量機103
三、模式識別方法在XRF中的套用103
參考文獻104
第十章樣品製備107
第一節制樣技術分類107
第二節分析制樣中的一般問題109
一、樣品的表面狀態109
二、不均勻性效應110
三、樣品粒度與制樣壓力110
四、X射線分析深度與樣品厚度111
五、樣品的光化學分解113
六、其他問題113
七、試樣裝入114
八、污染控制115
九、測定時須小心的樣品116
第三節金屬樣品的製備116
一、取樣116
二、金屬樣品的製備方法117
第四節粉末樣品的製備118
一、粉末壓片法118
二、玻璃熔片法121
三、鬆散粉末法126
第五節液體樣品127
一、液體法128
二、點滴法129
三、富集法129
四、固化法130
第六節其他類型樣品的製備130
一、塑膠樣品的製備方法130
二、放射性樣品131
第七節微少量、微小樣品的製備131
第八節低原子序數元素分析的特殊問題133
第九節樣品製備實例134
一、全岩分析134
二、石灰、白雲石石灰和鐵石灰138
三、石灰石、白雲石和菱鎂礦139
四、天然石膏及石膏副產品140
五、玻璃砂142
六、水泥144
七、氧化鋁145
八、電解液146
九、煤衍生物——瀝青147
十、樹葉和植物149
參考文獻150
第十一章X射線螢光光譜儀的特性與參數選擇153
第一節波長色散型X射線螢光光譜儀的特性與技術進展153
第二節X射線高壓發生器154
第三節X射線光管特性與選擇使用154
第四節濾光片、狹縫和準直器156
第五節晶體適用範圍及其選擇157
第六節2θ聯動裝置161
第七節測角儀161
第八節探測器特性與使用162
一、閃爍計數器163
二、氣體正比計數器163
三、探測器的選擇標準165
第九節脈衝高度分析器166
第十節實驗參數的選擇169
一、儀器參數的選擇169
二、光學參數的選擇170
三、探測器與測量參數的選擇172
第十一節能量色散XRF光譜儀的特性和注意事項173
第十二節全反射X射線螢光光譜儀特性與設計要點174
參考文獻175
第十二章儀器檢定、校正與維修176
第一節儀器檢定176
一、實驗室條件176
二、檢驗項目及測量方法176
三、技術指標178
第二節脈衝高度分析器的調整及儀器漂移的標正179
一、脈衝高度分析器的調整179
二、儀器漂移的校正180
第三節日常維護180
一、真空泵油位檢查180
二、P10氣體的更換181
三、高壓漏氣檢測181
四、密閉冷卻水循環系統的檢測181
五、檢查初級水過濾器182
六、X射線光管的老化182
七、日常檢查項目182
第四節常見故障及維護182
一、機械問題183
二、X射線高壓發生器183
三、真空度不好183
四、探測器的故障184
五、樣品室灰塵的清掃184
第五節儀器選型常用標準與判據185
一、硬體185
二、軟體185
參考文獻188
