JJG45-1999光學計

《JJG45-1999光學計》是由全國幾何量長度計量技術委員會起草,左進、鮑唯作為主要起草人編制的國家計量檢定規程,標準號為JJG 45-1999,歸屬國家計量檢定規程體系(CN-JJG)。該規程由中國計量出版社出版,2000年與2003年分別發行了不同印刷版本。規程規定了光學計的精度指標為1μm,測量範圍覆蓋(0〜250)mm,在設備校準領域作為核心檢定依據被廣泛套用。邯鄲市計量測試所研究人員依據本規程開展光學計示值誤差的不確定度評定研究,建立了包含儀器分辨力、量塊不確定度等分量的數學模型。

基本介紹

  • 標準號:JJG 45-1999
  • 起草單位:全國幾何量長度計量技術委員會
  • 起草人:左進、鮑唯
  • 出版社:中國計量出版社
  • 標準類型:國家計量檢定規程
  • DOI編碼:JJG 45-1999
制定背景與發布信息,技術參數與檢定項目,套用場景與學術研究,版本沿革與出版信息,

制定背景與發布信息

本規程由全國幾何量長度計量技術委員會主持編制,1999年經國家質量技術監督局批准發布。規程採用JJG編號體系,屬於強制性的計量技術法規類檔案,doi編碼為JJG 45-1999。中國計量出版社於2000年首次出版該規程紙質版本,2003年修訂發行新版印刷本,標準號與核心技術內容保持延續性。

技術參數與檢定項目

規程明確規定了光學計計量性能的核心指標:
  • 最大允許誤差:全量程範圍內示值誤差不得超過±1μm
  • 測量範圍:涵蓋(0〜250)mm的線性尺寸測量
  • 分辨力:光學計的最小刻度分度值為0.1μm
檢定項目包含示值變動性、測桿徑向受力變形量、光學計示值誤差等關鍵性能指標的測試方法與判定規則。

套用場景與學術研究

該規程作為計量技術規範,在設備校準領域具有強制實施效力。上海珩渥檢測技術服務有限公司等第三方機構依據本規程開展光學計校準服務,校準項目包含示值重複性、零位漂移量等核心參數。
邯鄲市計量測試所溫戰龍團隊基於本規程建立了光學計示值誤差的不確定度數學模型,通過實驗驗證得出:
  • 測量重複性引入的不確定度分量為0.29μm
  • 量塊中心長度偏差導致的分量為0.10μm
  • 溫度變化引入的分量為0.06μm
研究結果表明,在(0〜100)mm測量段,擴展不確定度達0.68μm(k=2),符合規程規定的誤差允許範圍。

版本沿革與出版信息

根據全國幾何量長度計量技術委員會的修訂記錄,JJG45-1999是現行有效版本。中國計量出版社分別於2000年和2003年對該規程進行兩次重印發行,內容未作實質性修改。標準文獻服務中心可通過doi編碼JJG 45-1999檢索到該規程的元數據信息。

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