基本介紹
- 中文名：45nm
- 時間：1906年
- 相關：第一枚電子器件劃時代而生
- 屬性：速度驚人的晶片時代
我們知道，能夠帶來突破性性能與尺寸的新體系結構，需要在更小的體積內放入更多的電晶體數目，需要更高級的晶片製程工藝。
從第一顆處理器到90納米處理器，乃至65納米處理器都是如此。英特爾把這種以兩年為周期的晶片與微體系結構快速發展步調稱為“Tick-tock”戰略。當矽製程技術“Tick”與微體系結構“Tock”交替發展到65納米階段時，進一步突破遇到了難以逾越的瓶頸。
但是，對業界影響深遠的摩爾定律並沒有因此而失去效力。經歷千萬次的試驗，英特爾將一種熔沸點和強度都極高且抗腐蝕性的新型金屬鉿(Hf)運用到晶片處理技術當中，創造出英特爾45納米高K金屬柵極矽製程技術層，替換二氧化矽電介層。
英特爾45納米高K技術能將電晶體間的切換功耗降低近30%，將電晶體切換速度提高20%，而減少柵極漏電10倍以上，源極向漏極漏電5倍以上。這就為晶片帶來更低的功耗和更持久的電池使用時間，並擁有更多的電晶體數目以及更小尺寸。
難以置信的偉大突破！請繼續探索45納米世界，發現更多驚奇。
高K金屬柵極
在處理器量產中採用的45nm晶片生產工藝和同時提及的高K-金屬柵極有什麼關係嗎？高K-金屬柵極到底是什麼？為什麼說成功研製高K-金屬柵極並將之付諸量產是半導體業界裡程碑式的技術變革和突破？
物理極限：突進中的困惑
我們天天說45nm製程，這裡我們首先來明確下這個概念。45nm(1μm=1000nm，1nm為10億分之一米)不是指的晶片上每個電晶體的大小，也不是指用於蝕刻晶片形成電路時採用的雷射光源的波長，而是指電晶體柵極的長度。半導體業界習慣上用長度這個工藝尺寸來代表矽晶片生產工藝的水平。另外，的連線尺寸也是一個很重要的標準，在一個技術時代里，比如45nm，線的寬度的是可以縮小的，但是線的高度是不變的。早期的連線採用鋁，後來都採用銅連線了。
我們知道，處理器性能的不斷提高離不開優秀的核心微架構設計，而晶片生產工藝的更新換代是保證不斷創新設計的處理器變為現實的基礎。每一次製作工藝的更新換代都給新一輪處理器高速發展鋪平了大道。因為線寬越小，電晶體也越小，讓電晶體工作需要的電壓和電流就越低，電晶體開關的速度也就越快，這樣新工藝的電晶體就可以工作在更高的頻率下，隨之而來的就是晶片性能的提升。
大家習慣了晶片生產工藝兩年一次的更新換代，給大家的感覺好像是從65nm到45nm同以前從130nm到90nm，以及從90nm到65nm一樣沒有什麼特別的。根據摩爾定律，就是每18個月，在同樣面積的矽片上把兩倍的電晶體“塞”進去，從單個電晶體的角度來看，為了延續摩爾定律，我們需要每兩年把電晶體的尺寸縮小到原來的一半。現在的工藝已經將電晶體的組成部分做到了幾個分子和原子的厚度，組成半導體的材料已經達到了它的物理電氣特性的極限。最早達到這個極限的部件是組成電晶體的柵極氧化物——柵極介電質，現有的工藝都是採用二氧化矽(SiO2)層作為柵極介電質(圖1)。大家也把源極(Source)和漏極(Drain)之間的部分叫做溝道(Channel)，在柵極氧化物上面是柵極(Gate)。
電晶體的工作原理其實很簡單，就是用兩個狀態表示二進制的“0”和“1”。源極和漏極之間是溝道，當沒有對柵極(G)施加電壓的時候，溝道中不會聚集有效的電荷，源極(S)和漏極(D)之間不會有有效電流產生，電晶體處於關閉狀態。可以把這種關閉的狀態解釋為“0”，當對柵極(G)施加電壓的時候，溝道中會聚集有效的電荷，形成一條從源極(S)到漏極(D)導通的通道，電晶體處於開啟狀態，可以把這種狀態解釋為“1”。這樣二進制的兩個狀態就由電晶體的開啟和關閉狀態表示出來了。
我們可以把柵極比喻為控制水管的閥門，開啟讓水流過，關閉截止水流。電晶體的開啟/關閉的速度就是我們說的頻率，如果主頻是1GHz，也就是電晶體可以在1秒鐘開啟和關閉的次數達10億次。
同1995年電晶體中二氧化矽層相比，65nm工藝的電晶體中的二氧化矽層已經縮小到只有前者的十分之一，僅有5個氧原子的厚度了。作為阻隔柵極和下層的絕緣體，二氧化矽層已經不能再進一步縮小了，否則產生的漏電流會讓電晶體無法正常工作，如果提高有效工作的電壓和電流，會使晶片最後的功耗大到驚人的地步。
從65nm開始，我們已經無法讓柵極介電質繼續縮減變薄，而且到45nm，電晶體的尺寸要進一步縮小，源極和漏極也靠得更近了，如果不能解決柵極向下的漏電問題以及源極和漏極之間的漏電問題，新一代處理器的問世可能變得遙遙無期。
