3D光學形貌儀是一種用於機械工程、計算機科學技術領域的特種檢測儀器，於2015年3月30日啟用。
3D光學形貌儀是一種用於機械工程、計算機科學技術領域的特種檢測儀器，於2015年3月30日啟用。技術指標納米級的表面定量計量精度提供了出色的計量能力。關聯的2D和3D標準，符合ISO 25178面形粗糙度參數標準。百萬像...
三維形貌儀是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2016年3月7日啟用。技術指標 1.雙LED光源（白光和綠光），工作模式分為VSI和PSI測試模式。垂直測量範圍：0.1nm至10mm，全量程閉環掃描，無需縫合拼接。垂直解析度：小於0.1nmRa;RMS重現性：0.01nm；垂直掃描速度：優於47微米/秒；橫向解析度：最小0.08微米。2...
三維光干涉形貌儀是一種用於機械工程領域的計量儀器，於2016年06月12日啟用。技術指標 視場:標準配置：0.04-16mm，跟物鏡和放大倍率有關,運用圖像拼接技術可以得到更大範圍 視場放大倍率：高質量分立放大倍率鏡頭：2.5X,10X,50X（標配） 光源：均勻成像，高效率，特殊設計長壽命白光LED 物鏡座標配：可快速裝卸單...
光學式形貌測量儀 光學式形貌測量儀是一種用於物理學、生物學、基礎醫學、材料科學領域的計量儀器，於2010年2月14日啟用。技術指標 Z Range:2.2mm after stiching＞10mm Resolution:0.01nm。主要功能 通過光學的方法，非接觸測量樣品的三維表面形貌。
3D形貌測量儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的儀器，於2011年12月5日啟用。技術指標 測量範圍：100mm×100mm×100mm； 最大縱向解析度：10nm； 配置360度轉軸，可掃描物體的整體3D模型進行分析測量。主要功能 微觀幾何形狀尺寸測量，幾何結構參數無損測量。微觀表面形貌分析，微觀表面平面度、粗糙度、面...
三維光學干涉形貌儀 三維光學干涉形貌儀是一種用於航空、航天科學技術領域的物理性能測試儀器，於2007年10月17日啟用。技術指標 高度解析度：0.1 A。主要功能 表面微觀形貌測試。
表面三維形貌儀是一種用於數學領域的計量儀器，於2008年1月1日啟用。技術指標 放大倍數為25倍、100倍、500倍垂直掃描範圍：30 μm 、100μm、5mm、10mm 垂直掃描解析度：0.01nm解析度：752×480像素（可選1k×1k ）側向解析度：0.11-8.8 μmRMS重複精度：1nm視場範圍：8mm×10mm-0.084mm×0.063mm校正...
3D雷射共聚焦形貌測量顯微鏡是一種用於物理學、化學、工程與技術科學基礎學科、材料科學領域的分析儀器，於2014年7月8日啟用。技術指標 光學變焦範圍：1-8倍；測定用雷射：408納米紫雷射；掃描頻率：4-120Hz（面掃描），7900Hz（線掃描）；受光素子： PMT鹵素燈；物鏡放大倍率：5，10，20，50，150；配自動測量...
SuperView W1光學3D表面輪廓儀是一款用於對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。它是以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模組、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描並建立表面3D圖像，通過系統軟體對器件表面3D圖像進行數據處理與分析，並獲取反映器件表面質量的2D、3D參數，從而實現器件表面形貌3D...
光學面形測量系統是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的物理性能測試儀器，於2016年9月3日啟用。技術指標 光學元件輪廓測量，面形測量精度優於1/10波長 軸向分辨力：1/10波長。主要功能 光學面形測量系統是非接觸式3D表面輪廓形貌測量系統。可以對各種不同的樣品進行測量：透明和不透明、由低至高的反射率、由光滑...
3D形貌雷射顯微系統 3D形貌雷射顯微系統是一種用於機械工程領域的分析儀器，於2015年11月12日啟用。技術指標 微分干涉稜鏡（U-DICR）；5X物鏡（MPLFLN5X）；平場半復消色差物鏡5X；參數：數伯孔徑0.15,工作距離20nm。主要功能 測量樣品的行寬和不均勻剖面，並以各種方式顯示圖像。
非接觸式3D光學成像輪廓測定儀是一種用於機械工程領域的分析儀器，於2015年12月22日啟用。技術指標 1.共聚焦物鏡：5X、10X、20X、50X、100X； 2.干涉物鏡：50X； 3.樣品最大高度：40mm，立柱調節範圍：180mm； 4.工作檯行程X方向：150mm，Y方向：150mm。主要功能 表面形貌的光學測量。
3D形貌顯微鏡是一種用於材料科學、機械工程領域的分析儀器，於2017年06月15日啟用。技術指標 放大倍數：光學20-2000X，電動變焦；物理景深：最大可達到34mm；載物台：電動載物台，X/Y軸行程40mm，Z軸測量範圍35mm；觀測角度:調整範圍為-90°~+60°；錄像系統：錄像頻率15幀/秒、30幀/秒、50幀/秒可切換；...
3D光學表面輪廓儀是一種用於機械工程領域的物理性能測試儀器，於2017年9月26日啟用。技術指標 縱向掃描範圍：150 μm精密壓電陶瓷掃描，20mm擴展掃描；表面形貌重複性：＜0.2nm；RMS重複性：0.01nm；採用 3D非接觸式測量。主要功能 Zygo Newview型3D光學表面輪廓儀可以實現測試範圍從小於1納米到20000微米, NewView...
三維表面形貌儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的計量儀器，於2016年06月01日啟用。技術指標 工作平台：可接納樣品不小於150x150mm，XY解析度0.078um，掃描平整度＜1um/100mm，Z的量程2nm到50um 測量光筆1:量程＞300um，精度0.06um，解析度(Z向)0.012um，解析度(側向)1.55um 測量光筆2：量程 ＞2500u...
三維白光干涉形貌儀是一種用於數學領域的計量儀器，於2016年07月01日啟用。技術指標 XYZ行程：200mmX200mmX100mmRMS重複精度：0.005nm垂直掃描範圍：0-20mm垂直掃描解析度：1nm最大縱向掃描速度：96um/secRa測量精度：≤0.1nm反射率要求：0.05%-100%顯微鏡鏡頭：2.75X，10X，50X，100X。主要功能 非接觸式形貌...
自動變焦三維表面形貌儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器，於2014年5月8日啟用。技術指標 位移範圍(X、Y、Z軸)：100×100×100mm 樣品表面結構：表面形貌Ra＞10-15nm，Lc=2µm 最大掃描面積：10000mm2 最小測量粗糙度（Ra）：30nm。主要功能 表面形貌測量、粗糙度測量、表面紋理測量、體積測量...
三維非接觸式表面形貌儀 三維非接觸式表面形貌儀是一種用於材料科學、礦山工程技術、冶金工程技術、機械工程領域的工藝試驗儀器，於2007年01月06日啟用。技術指標 50X、10X、2.5X解析度：752X480像素、1000X1000像素、Z軸方向解析度5nm。主要功能 機械測量。
光學放大倍數：34X～1010 X，解析度優於1um。載物台：尺寸310X223mm；移動範圍100x130 mm；解析度為0.1um；最大樣品載重:4 Kg。 Z軸最大移動行程60 mm；機身傾斜角度+/- 45°,精度為1度。自動景深合成，3D圖像獲取及測量，圖像拼接，實時HDR拍照及錄像。主要功能 主要用於樣品表面形貌的平面與三維觀察和...
100kHz時0.18°; 1MHz時1.8°; 2.4MHz時4.3°； G.相位範圍：0 至 720° (連續)； H.驅動頻率波形：DC, 正弦波, 三角波, 方波, 自定義。主要功能 可以進行全面的三維表面分析，能夠實時表征被測對象的動態形態，設備運用白光干涉的原理，能夠以非接觸的方式測量激勵狀態下微納器件表面三維形貌特徵。
光學輪廓儀 光學輪廓儀是一種用於電子與通信技術領域的儀器，於2016年11月25日啟用。技術指標 1單次測量市場：最大可達16.8*16.8mm2工作距離：40mm3縱向掃描範圍：150um，最大可擴展到20mm。主要功能 1微納結構的靜態三維形貌表征2器件輪廓動態變化的測量。
優可測Atometrics是板石智慧型旗下專注於檢測領域的國產自主品牌。致力為客戶提供三維形貌測量產品、解決方案及相關服務。優可測主要產品包含白光干涉儀、線雷射測量儀、光譜共焦位移感測器、薄膜厚度測量儀、衍射三維形貌儀等不同原理的3D精密檢測測量光學儀器和線上測量單元。用於半導體、光學鏡片、材料、3C消費類電子、醫...
DSX系列顯微鏡不僅能夠完成傳統顯微鏡的2D圖像拍照和測量，還能夠實現3D表面形貌的拍攝和提面積測量，能夠實現樣品的大景深擴展和大範圍圖片拼接，以及圖像後續處理等功能。奧林巴斯CX21 奧林巴斯UIS2無限遠校正光學系統，進一步提高光學品質 出色的圖像分辨力，更高的可靠性和堅固性 卓越的圖像質量 · 平場物鏡作為標準配置...
早在1929年，德國的G.Schmaltz首先對表面微觀不平度的參數進行了定量的測量，隨後出現了一些基於機械和光學方法實現信號轉換的表面特徵記錄儀器。1936年，美國的E.J.Abbott研製成功第一台車間用的測量表面粗糙度的輪廓儀，它是當下美國Bendix公司測微計分廠生產的表面輪廓儀的先驅。1940年，英國Taylor- Hobson公司研製...
2、3D線光譜共焦感測器 海伯森HPS-LCF系列是一款基於光譜共焦法原理的、非接觸式的光學精密檢測感測器，可通過高速線掃獲取物體表麵點雲數據，從而實現對被測物表面形貌的3D成像分析，包括物體尺寸、形貌、表面粗糙度、平整度、厚度、段差高度、間隙和面差、毛刺和閃爍、體積、範圍、斷層和缺陷等。在實際套用中，突破...
(44)張旭苹，胡君輝，李存磊，張益昕，基於邊沿濾波法的單光子探測布里淵光時域反射儀，2013. 11. 27，中國，ZL201210083195.1 (45)許國良張旭苹黃金源，光學通訊系統接收天線，2005.05.25，中國，ZL03131921.1 (46)張旭苹黃金源許國良徐偉弘，高穩定性光波分復用器的製備方法，2005.05.25，中國，ZL03113452.1 (...
張傳維，男，1982年出生，博士，華中科技大學機械學院講師，主要從事納米製造中關鍵尺寸、3D形貌、以及套刻精度等參數光學測量方面的研究工作。作為主要研究人員，先後參加了國家863項目“高深寬比微納深溝槽結構基於模型的紅外反射譜測量方法與設備”、國家科技重大專項子課題“基於模型的光學臨近校正技術”以及國家自然科學...
3. 高精度3D幾何形貌測量技術研究 4. 高速動態三維實時測量技術研究 5. 高保真、無干擾人臉三維數據測量與獲取技術研究 6. 大景深可變焦立體視覺三維重建技術研究 代表項目 (1) 教育部科技項目，教外司人文（2020）703號-8，基於深度學習的稠密立體視覺匹配方法研究，2020/09-2022/08，負責 (2) 四川省重點研發...
3D線雷射輪廓相機 基於雷射三角成像原理的3D線雷射輪廓掃描相機具備高速、高精度、動態三維成像特點，特別適用於運動物體的光學掃描成像，無論物體表面反射率高低均可獲得理想的三維圖像，使得在工業產品，特別是具有光滑反光表面物體的外觀尺寸線上測量及形貌質量檢測領域有巨大的套用價值。（2）智慧型裝備 5G+高精度工業AI...
