高分辨電子顯微術

中文名稱高分辨電子顯微術
英文名稱high resolution electron microscopy,HREM
定  義利用透射電子顯微鏡將固體物質中原子排列投影成像的理論和技術。其分辨能力接近或達到原子尺度(約0.1nm)。對顯示材料結構納米尺度的變異及缺陷有獨到的優點。
套用學科材料科學技術(一級學科),材料科學技術基礎(二級學科),材料科學基礎(三級學科),材料的表征與測試(四級學科)

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