錶盤底蓋缺陷檢測儀氏應

錶盤底蓋缺陷檢測儀氏應主要用於自動檢測錶盤正面缺陷的儀器。

儀器用途,儀器特點,

儀器用途

如:確認錶盤表面的底色及底紋、表面是否刮花、有污漬、灰塵;確認時位字釘形狀、粗幼、長短、顏色、夜光、少字釘、錯字釘、釘傷、釘崩、釘污等;確認分線印刷的位置、大小、顏色、斷劃、少印刷等;確認LOGO印刷的位置、大小、顏色、斷劃、印刷不良等;確認日曆窗的大小、印刷、披鋒等;確認附加件有無、位置、配合等。

儀器特點

具有國際先進水平的測量軟體包YVM-AOI將現代坐標測量技術、現代CAD工業設計技術和現代工業加工技術的幾何量尺寸、公差評定測試要求進行了最佳結合,不管是簡單的箱體類工件還是複雜的輪廓曲面類工件抑或是更加專業的LCD行業,YVM-AOI軟體都為其提供了完美的測量解決方案。計算速度快、數學模型先進、功能齊全、操作直觀、穩定性好。
產品型號 YX-AOI
工作環境參數 振動<0.1g,低於15HZ
儀器允許使用環境溫度 10℃---35℃(恆溫)
環境相對濕度 (60±5)%
能源 電源電壓:220V電源,電壓頻率:50HZ,電源最大消耗功率不超過:500W
成像系統 工業鏡頭(500萬像素)
最大光圈/焦距 F1.8-c/50mm
解析度 500萬
傳輸率 千兆位乙太網
幀率 34fps,最大:在全解析度50fps
像元尺寸 4um
量測範圍 長0-48mm、寬0-43mm
整台機尺寸為 1200mm*400mm*600mm
重量 150KG
光源 24V/16WLED燈
拍攝精度 4um
軟體分析精度 0.01mm
重複性精度 3um
計算機系統(宏基,聯想) 品牌機(可選)CPU多核記憶體:4GB硬碟:500GB顯示卡:1G獨立顯示卡顯示器:21“LCD標屏作業系統:Windows7正版作業系統。提供完整的驅動程式,計算機專業操作桌,光學滑鼠,鍵盤儀器優勢:
(主要用於快速大範圍檢測,具有更高的解析度)
攝像系統 採用面陣相機
攝像方法 面狀區域拍攝
光源照明方式 同軸光源
照明系統 直射照明,24V16WLED燈
對焦方式 手動
時實亞像素找點 首次將亞像素高級圖像處理技術引入影像儀檢測行業,極大的提高了檢測精度檢測效率,測量一個圖元,較同類軟體,至少節省3/5的時間,精度提高2倍以上(在相同光學倍率下)
光學輔助對焦 可幫助您調到最好的高度,極其精確的光學對焦,使光學和數字圖像處理技術得到完美結合。既使使用普通鏡頭和普通CCD也可使測量結果的精度和重現性在2um以內,此項技術達到了國際先進水平,縮短了國內影像測量技術與國外技術的差距
快照 拍攝單張照片的功能
圖片輸出 測量結果可以圖片的格式輸出
設定公差 可設定產品的實際尺寸超出範圍,超出則以紅色背景警示
單位換算 公英制轉換
角度自動矯正 矯正圖像擺放角度
CCD矯正 矯正圖像畸變

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