由鋅生長而成的微米級絨毛織聚物。當鋅原子在鐵中分離時自發生長，具有導電性能。
基本介紹
- 中文名：鋅晶須
- 外文名：ZInc Whisker
- 屬性：絨毛織聚物
- 長度：幾毫米或更短
- 直徑：幾微米
- 形態：直線狀或彎曲狀的細絲、打結狀的細絲
- 紋理：沿著生長軸有凹槽或條紋
- 導電性：在熔化前可攜帶數十毫安
- 潛伏期：時長未知，幾天到幾年不等
- 生長期：每年250微米—1毫米的速度生長
基本介紹
鋅晶須於1948年首次由貝爾實驗室發現，來源於機房中常用的鍍鋅產品。鋅（Zn）是一種用於防止鋼鐵生鏽或氧化的元素，鋅晶須從經過防腐蝕鍍鋅處理的金屬表面生長出來，無需任何外部刺激，被稱為“自發性”生長。在壓縮應力下而形成的“壓縮性”的晶鬚生長，在電子顯微鏡下觀察時，電鍍鋅類似於籃式編織物或格子圖案中的纖維，這種圖案是由鋅原子的排列形成的，它們在膜的表面上排成行或列。原子結構開始與鋼分離並將鋅塗層從鋼表面推開。鋅晶須的生長是從底部開始的而不是尖端。這種分離的結果就是微小的鋅柱被推離表面或從表面生長出來。鋅晶須的生長並不會使鋅膜凹陷或變薄，這表明原子的運輸經過了很長的距離，這種分解過程稱之為“原子遷移”。
鋅晶須可以被認為是一個低電容保險絲，直流電阻大約為10至40歐姆，直流熔斷電流為10至30毫安，不同的幾何形狀影響它的電阻、電流大小。雖然鋅晶須的體積很小，但對於今天的微電路而言，它們已大到足以引發問題。這些問題包括短路、電壓變化和其他信號干擾。當靈敏的電子設備受到鋅晶須的污染時，可能會發生設備故障和系統重置。在大多數情況下，由鋅晶須引起的相同短路會使受污染的晶須被電流蒸發，或者在板或卡被移走時晶須會移位，從而無法進行明確的故障分析。數據表明，大部分NTF(未發現故障)統計數據可能是由於鋅晶須污染導致的間歇性故障。
近年來，許多計算機設備故障(伺服器、路由器、交換機等)，從惱人的小故障到災難性的系統故障，都被歸咎於鋅晶須。
國外已經成立了一些專門從事識別、遏制和清理這類污染的機構和企業。而真正意義上的杜絕鋅晶須只有不再使用電鍍鋅產品。
