《中華人民共和國國家標準:銻化銦單晶電阻率及霍耳係數的測試方法(GB 11297.7-1989)》適用於長方體和薄片銻化銦單晶樣品的電阻率和霍耳係數的測量。本方法所採用的樣品是從銻化銦單晶中切割製備的，在特定位置上施加電極接觸，用直流方法測量樣品的電阻率和霍耳係數，而後計算該樣品的載流子濃度和載流子遷移率。
基本介紹
- 中文名：銻化銦單晶電阻率及霍耳係數的測試方法
- 外文名：Test Method for Resistivity and Hall Coefficient in InSb Single Crystals
- 作者：國家技術監督局
- 出版日期：1989年1月1日
- 語種：簡體中文
- ISBN：1550660112977
- 出版社：中國標準出版社
- 頁數：24頁
- 開本：16
《中華人民共和國國家標準:銻化銦單晶電阻率及霍耳係數的測試方法(GB 11297.7-1989)》由中國標準出版社出版。
