透射電子顯微鏡選區電子衍射分析方法

基本介紹

  • 書名:透射電子顯微鏡選區電子衍射分析方法
  • 作者:中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局
  • 出版日期:2003年4月1日
  • 語種:簡體中文
  • ISBN:155066119336
  • 外文名:Method of Selected Area Electron Diffraction for Transmission Electron Microscopes
  • 出版社:中國標準出版社
  • 頁數:12頁
  • 開本:16
  • 品牌:北京勁松建達科技圖書有限公司
內容簡介,圖書目錄,

內容簡介

《透射電子顯微鏡選區電子衍射分析方法(GB/T 18907-2002)》的附錄A和附錄B為規範性附錄。本標準由全國微束分析標準化技術委員會提出。本標準由全國微束分析標準化技術委員會歸口。本標準由北京科技大學材料物理與化學系、北京有色金屬研究院測試所起草。本標準主要起草人:柳得櫓、劉安生。

圖書目錄

前言
1範圍
2原理
3儀器設備
4試樣
5參照樣品
6試驗方法
6.1儀器準備
6.2選區電子衍射譜的獲得
6.3衍射常數Lλ的測定
7衍射譜的測量與計算
附錄A(規範性附錄)純金與純鋁的晶面間距表
附錄B(規範性附錄)單晶體的標準衍射譜
B.1面心立方晶體的低指數晶帶衍射譜
B.2體心立方晶體的低指數晶帶衍射譜
B.3密排六方晶體的低指數晶帶衍射譜
參考文獻

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