| 中文名稱 | 透射電子顯微術 |
| 英文名稱 | transmission electron microscopy，TEM |
| 定 義 | 利用穿透薄膜試樣的電子束進行成像或微區分析的一種電子顯微術。能獲得高度局域化的信息，是分析晶體結構、晶體不完整性、微區成分的綜合技術。 |
| 套用學科 | 材料科學技術（一級學科），材料科學技術基礎（二級學科），材料科學基礎（三級學科），材料的表征與測試（四級學科） |
| 中文名稱 | 透射電子顯微術 |
| 英文名稱 | transmission electron microscopy，TEM |
| 定 義 | 利用穿透薄膜試樣的電子束進行成像或微區分析的一種電子顯微術。能獲得高度局域化的信息，是分析晶體結構、晶體不完整性、微區成分的綜合技術。 |
| 套用學科 | 材料科學技術（一級學科），材料科學技術基礎（二級學科），材料科學基礎（三級學科），材料的表征與測試（四級學科） |
中文名稱 透射電子顯微術 英文名稱 transmission electron microscopy,TEM 定義 利用穿透薄膜試樣的電子束進行成像或微區分析的一種電子顯微術。能獲得高度局域化的...
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《透射電子顯微技術新進展 I卷理論和方法(英文)》是1999年清華大學出版社出版的圖書,作者是章效鋒。...
《透射電子顯微學(4卷本)》是2007年清華大學出版社出版的一本圖書,作者是威廉斯。...... 《透射電子顯微學(4卷本)》是2007年清華大學出版社出版的一本圖書,作者...
掃描透射電子顯微鏡(scanning transmission electron microscopy,STEM)既有透射電子顯微鏡又有掃描電子顯微鏡的顯微鏡。STEM用電子束在樣品的表面掃描,通過電子穿透樣品成像...
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《透射電子顯微學:材料科學教材(4卷本)》是2007年8月出版的圖書,作者是David B.Williams C.Barry Carte。...
《透射電子顯微學:材料科學教材》是2007年8月1日清華大學出版的圖書。...... 《透射電子顯微學:材料科學教材》(4卷本)(影印版)是美國最為流行的教科書之一。它...
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