試驗場檢校法

試驗場檢校法:試驗場檢校法是一種直接補償方法,由德國Kupfer教授提出。考慮到常規的實驗室檢校不能完全代表獲取影像數據的實際過程,Kupfer提出利用真實攝影飛行條件下的試驗場檢校法,由大量地面控制點求得補償系統誤差的參數。

在保證攝影測量條件(即攝影機、攝影期、大氣條件、攝影材料、攝影處理條件、觀測設備及觀測員等)基本不變的情況下,用這組參數來補償和改正實際區城網平差中的系統誤差。

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