試件柵（specimen grating）是1993年公布的力學名詞。
基本介紹
- 中文名：試件柵
- 外文名：specimen grating
- 所屬學科：力學
- 公布時間：1993年
公布時間,出處,
公布時間
1993年，經全國科學技術名詞審定委員會審定發布。
出處
《力學名詞》第一版。
試件柵
相關詞條
- 試件柵
試件柵（specimen grating）是1993年公布的力學名詞。公布時間1993年，經全國科學技術名詞審定委員會審定發布。出處《力學名詞》第一版。1...
- 密柵雲紋法
當試件柵隨試件變形時，其柵線的間距（稱節距P）和方向發生變化，由光的幾何干涉而產生的雲紋也隨之變化。雲紋的分布與試件的變形情況有著定量的幾何關係，從而可推算出試件各點的應變值。國外稱此方法為莫爾（Moire）法。該字有絲綢波紋之意。密柵雲紋法與電測法類似，能算出各點的應變值，只是貼片面積大...
- 疊柵雲紋法
疊柵雲紋法 疊柵雲紋法是2019年公布的冶金學名詞。定義 利用兩組重疊的柵線(一片貼在試件的表面上)相互遮光而出現雲紋圖來測出其位移場的一種光學試驗方法。出處 《冶金學名詞》。
- 雲紋法
柵線夾角大於30°，條紋因過密而變成灰色背景，目力已難以分辨。利用這種現象，通常可採用由兩組互相正交的平行柵線構成的正交柵作為試件柵，參考柵則可用平行柵。當它轉至某適當位置時，只能和試件柵的某一組柵線形成易辨認的干涉條紋。再將參考柵轉動90°，則可與試件柵的另一組柵線形成清晰的干涉條紋。設試...
- 面內雲紋法
用面內雲紋法測量試件變形，需要兩塊柵：一塊是將柵線印製在試件的表面，隨試件一起變形的試件柵；另一塊是不隨試件變形的參考柵（或稱分析柵）。將這兩塊柵互相接觸重疊，就會因干涉而形成雲紋。如進行非接觸式測試，須通過透鏡。使一塊柵成像於另一塊柵的平面上，形成乾渉條紋。理論計算 圖2所示參考...
- 離面雲紋法
用面內雲紋法測量試件變形，需要兩塊柵：一塊是將柵線印製在試件的表面，隨試件一起變形的試件柵；另一塊是不隨試件變形的參考柵（或稱分析柵）。將這兩塊柵互相接觸重疊，就會因干涉而形成雲紋。如進行非接觸式測試，須通過透鏡。使一塊柵成像於另一塊柵的平面上，形成乾渉條紋。特點 無須在試件表面...
- 雲紋干涉法
雲紋干涉法由於採用柵線密度為600-1200線/毫米甚至超過2000線/毫米的高密度衍射光柵作為試件柵，其測量靈敏度和全息干涉法、散斑干涉法一樣，可達到波長量級，比傳統雲紋法要高出30-120倍.此外，這種方法還具有全場分析、實時觀測、高反差條紋，以及直接獲取面內位移場和應變場等優點。近幾年來，雲紋干涉法，在...
- 實驗應力分析
通過測定雲紋並對其進行分析以確定試件的位移場或應變場的一種實驗分析法。其原理是，當柵板和柵片重疊時，因柵片牢固地貼上在試件表面而隨之變形，遂使柵板和柵片上的柵線因幾何干涉而產生條紋即雲紋。可通過雲紋測定物體表面的等高線，以及板殼的撓度分布等。③雲紋干涉法 幾何雲紋法與光學干涉法相結合的一...
- 應變計選擇方法
（2）根據試件材料大小尺寸、貼上面積、曲率半徑、安裝條件、應變梯度選擇敏感柵柵長。（3）根據應變梯度、應力種類、散熱條件、安裝空間、應變計電阻等選擇敏感柵結構。(4)根據使用條件、功耗大小、最大允許電壓等選擇標稱電阻。(5)根據試件材料類型、工作溫度範圍、套用精度選擇溫度自補償係數或彈性模量自補償係數。(...
- 電阻應變片法
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- 大面積全場離面位移高分辨測試技術研究
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2、壓電晶體載荷感測器、光柵、磁柵、測力儀，拉力機，硫化儀 (增量式、絕對式)等。前運行時為模擬感測器、後運行時為數字感測器。按測量材料分為: 金屬類試驗機,非金屬類試驗機 按功能分為:測力儀，拉力機，硫化儀 ,萬能試驗機,衝擊試驗機等 產品介紹 壓力測試是一種基本的質量保證行為，它是每個重要軟體...
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8． 當磨至規定時間，磨機應自動停車，停車後換上柵孔板，再開動磨機甩料，至甩淨為止。9． 靜待約5分鐘即可抽出盛料斗，取出磨好的物 10． 如磨製有專門要求的物料，應在磨製前用乾的礦渣或砂子放入磨筒內研磨5分鐘來清洗粘在鋼球上的物料。M177883 技術參數 磨筒內徑及長度 500*500mm 研磨體裝載量 100KG...
