計數率表（counting ratemeter）是1993年公布的電子學名詞。
基本介紹
- 中文名：計數率表
- 外文名：counting ratemeter
- 所屬學科：電子學
- 公布時間：1993年
公布時間,出處,
公布時間
1993年，經全國科學技術名詞審定委員會審定發布。
出處
《電子學名詞》第一版。
計數率表
相關詞條
- 計數率表
計數率表（counting ratemeter）是1993年公布的電子學名詞。公布時間1993年，經全國科學技術名詞審定委員會審定發布。出處《電子學名詞》第一版。1...
- 模擬計數率表特性和測試方法
《模擬計數率表 特性和測試方法(GB/T 4861-2008)》是由中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局，中國國家標準化管理委員會發布的中華人民共和國國家標準GB/T 4861—2008。該標準代替 GB/T 4861—1984。本標準與2008—06—19發布，於2009—04—01正式實施。內容簡介 《模擬計數率表 特性和測試方法(GB/T 4861-...
- 本底計數率
樣品淨計數率的統計誤差計算需綜合本底計數率(nb)與總計數率(nc),其標準差公式為σ_na=√(nc/tc + nb/tb)。該公式通過誤差傳遞理論推導得出,表明測量時間tc、tb的分配直接影響誤差控制精度 [1]。 為實現誤差最小化,需按tc/tb=√(nc/nb)比例分配樣品與本底測量時間。當總測量時間T固定時,最優分配方案可...
- 最大計數率
最大計數率特指單光子發射計算機斷層掃瞄器（SPECT）、γ相機等核醫學成像設備中，探頭在單位時間內能準確記錄γ光子的最大數量值。該參數是衡量設備探測系統回響速度與數據處理能力的核心指標，直接決定設備在臨床高活度放射性藥物檢測中的適用性。影響因素與數學關係 設備性能受多重因素影響：探頭固有解析度（Ri）與準...
- 總符合計數率
總符合計數率是PET設備性能評估的核心指標，由真符合、散射符合和隨機符合計數率共同構成。噪聲等效計數率（NECR）作為其重要表征參數，通過剔除散射和隨機符合干擾，直接反映有效統計信息量與圖像噪聲水平。總符合計數率由真符合、散射符合和隨機符合計數率共同組成。2020年對14台PET設備的測試顯示，NECR平均值為（10....
- 噪聲等效計數率
噪聲等效計數率（noise equivalent counting rate，RNEC）是核醫學領域表征正電子發射斷層成像（PET）系統噪聲水平的關鍵技術參數，定義為真符合計數率的平方與總符合計數率的比值。該指標廣泛套用於PET/CT設備質量控制領域，我國衛生行業標準WS817-2023與NEMA NU2-2018均將其列為設備驗收檢測的核心指標。在臨床套用中，...
- 線性率表
線性率表 線性率表（linear ratemeter）是1993年公布的電子學名詞。公布時間 1993年，經全國科學技術名詞審定委員會審定發布。出處 《電子學名詞》第一版。
- 計數率特性
計數率特性 計數率特性（count rate performance）是2018年公布的核醫學名詞。定義 放射性計數測量設備及顯像設備的工作效率特性。一般用其計數率隨放射性活度變化的曲線表征。出處 《核醫學名詞》第一版。
- 光子計數器
在光子計數測量系統中，光電倍增管增益的變化、零點漂移和其他不穩定因素對計數影響不大，所以時間穩定性好。有比較寬的線性動態範圍，最大計數率可達測10⁶s。量數據以數字顯示，並以數位訊號形式直接輸入計算機進行分析處理。產品介紹 光子量子特性 光是由光子組成的光子流，光子是靜止質量為零，有一定能量的粒子。
- 暗計數
暗計數是單光子探測領域表征探測器噪聲水平的核心參數，定義為無光子入射時由熱漲落、電噪聲或雜散光引發的誤觸發脈衝數。該參數與探測效率存在制約關係，在超導納米線探測器（SNSPD）中表現為暗計數率隨偏置電流增加而上升的特性。通過製冷技術降低工作溫度至2.6K可有效抑制熱噪聲引發的暗計數，而InGaAs探測器通過器件...
- 高計數率MRPC工作穩定性研究
《高計數率MRPC工作穩定性研究》是依託清華大學，由王義擔任項目負責人的面上項目。項目摘要 採用低電阻玻璃製成的多氣隙電阻板室（MRPC-Multigap Resistive Plate Chamber）具有時間分辨好(95%），能承受的粒子計數率高(＞25kHz/cm^2)等特點，在許多大型高能物理實驗中有廣泛套用，德國的FAIR－CBM實驗決定採用我們...
- 成像探測器
高計數率時光子計數成像系統的解析度會下降,這主要是由於MCP的增益下降和光子計數的脈衝堆積造成的。加Au陰極後,不同光強條件下系統的光子計數成像結果所示。實驗測試條件為MCP工作電壓為1800V,陰極電壓為200V,採集閾值為1.5～7.5V,採集時間為5min。,隨著計數率的增加,圖像的解析度性能逐漸變差。當計數率提高到13.5kH...
- 自動時間常數
自動時間常數 自動時間常數（auto control time constant），是指計數率表的時間常數能隨計數率的變化速率而改變。
- 輻射監測儀表
表面活度回響是指表面污染水平為1Bq·cm時的計數率，而儀器效率為儀器計數率與校準源表面發射率之比。每台儀器必須用適當的參考標準源校準，確定表面活度回響或儀器效率後才能套用。在套用表面污染監測儀時，必須注意的是表面活度回響或儀器效率與待測污染核素的能譜，儀器工作狀態(甄別能量)以及測量時的幾何條件均有...
- 放射性測量
測量的結果可用計數率，即射線每分鐘的計數次數（簡寫為cpm）表示，現代計數裝置通常可以同時給出衰變率，即射線每分鐘的衰變次數（簡寫dpm）、計數效率（E）、測量誤差等數據，閃爍探測器是近幾年來發展較快，套用最廣泛的核探測器，它的核心結構之一是閃爍體。閃爍體在很大程度上決定了一台計數器的質量。⒉閃爍體 閃爍體是一類能吸收能量
- 系統平面靈敏度
系統平面靈敏度是核醫學成像設備的核心質量控制參數，定義為在規定條件下探頭計數率與平面源活度的比值。該指標測量需區分有散射和無散射兩種測試場景，其數值受放射性核素能量及準直器類型影響。根據國家標準GB/T 18989—2013，測量方法需與NEMA標準NU1—2007銜接，2025年研究證實簡易模體可作為標準模體的有效替代方案...
- 堆積效應
堆積效應是電子學中因脈衝信號重疊引發的測量偏差現象，當入射光子流量過大時，光電倍增管的輸出脈衝信號會因堆積效應導致計數率誤差。該效應在光電倍增管等信號探測系統中尤為顯著，當入射光子流量過大時，輸出脈衝會因時間重疊產生計數誤差。其數學表達式為R_p = R_i·exp(-R_i·t)，誤差隨計數率增加呈非線性...
- 超導納米線單光子探測器
超導納米線單光子探測器（SNSPD）是一種基於超導納米線技術的高性能單光子探測設備，具備高探測效率（>90%）、低暗計數率（cps）及小時間抖動（）等特性。該儀器在量子信息、雷射通信、天文觀測等前沿領域具有廣泛套用，可實現極弱光條件下的光子計數與光譜感知。近年來，中國科學技術大學、南京大學等科研機構持續推動...
- 聲發射儀
用理論分析方法和實驗方法研究滑動軸承聲發射信號特徵隨轉子轉速的變化規律。研究表明，滑動軸承的聲發射信號特徵參數（時域波形，事件計數率，頻率中心等）隨轉速的變化而變化。潤滑狀態較好時，幅值、事件計數率、頻率中心較小；潤滑狀態變差時，幅值、事件計數率、...用超聲測厚儀測量曲面厚度 大型迴轉零件和封閉零件...
- 卡爾費休
雖然儀器會自動調整電壓來適應電阻的改變得到合適的電流計數率。但每個滴定儀都有自己最大的額定電壓，當電阻太高超過了儀器的自動調整區間。這時電壓是最大電壓，電流卻是小於標準電流。但儀器還是會按照默認的的電流來計算水分。較小的電流電解得到的較少的碘消耗掉較少的水，而儀器卻是按照標準電流計算認為反應了...
- 平插式能譜儀
探測器設計：採用環形四通道矽漂移探測器，水平放置於電鏡極靴下方，固體角>1.1sr，計數率可達常規能譜儀的幾十倍，在低束流（）條件下仍能保持高信號採集效率。分析模式：支持點、線、面掃描以及無標樣定量分析，具備譜峰剝離和相似譜圖匹配檢索功能。核心參數 能量解析度：在100,000CPS條件下，Mn Ka解析度優於...
- 補償中子測井
補償中子測井用同位素中子源（18Ci鎇—鈹中子源）在井筒中向地層發射快中子，再用兩個長、短不同源距的熱中子探測器，測量經地層慢化並散射回到井筒的熱中子，得到兩個計數率（見圖）。短源距（26cm）與長源距（38cm）探測器計數率的比值，主要反映地層對快中子的減速能力，顯示出地層含氫量的變化。中子（測井...
- 中華人民共和國國家標準:多道分析器
圖7測量積分非線性時的誤差函式E（m）圖8測量多道分析器微分非線性的閃爍計數法 圖9測量死時間的框圖 圖10測量最高可測脈衝頻率的框圖 圖11試驗死時間校正誤差的框圖 圖12計數率引起的道址相對漂移和能量解析度變化的試驗框圖 表1多道分析器的基本性能 表A.1性能參數和技術指標 ...
- 釙-210
（2）α計數測量法：水樣採用氫氧化鐵或鈣鎂氫氧化物沉澱載帶釙，鹽酸溶解沉澱後，在0.5mol/L鹽酸體系中自發沉積Po；其他環境樣品（空氣濾膜、生物樣品、土壤）等經前處理後製成樣品溶液，轉化為0.5mol/L鹽酸體系自沉積。最後，以低本底α測量儀測得的計數率計算出Po的活度濃度。儀器和試劑、樣品前處理等詳見...
- X衍射儀
X衍射儀是基於X射線衍射原理設計的高精度分析儀器，可實現材料晶體結構、納米粒度及殘餘應力的定量測定。其測角系統角度重現性達±0.0001°，探測器最大計數率超過4×10⁶ cps，具備小至0.2 cps的背景噪聲控制能力，99％線性範圍超過10⁶ cps。該設備支持納米材料（0-300 nm）、金屬織構等多場景分析，數據採集...
- 碘-131
用低本底β測量裝置或低本底γ譜儀測量I的計數率。本法使用的裝置、試劑及詳細的分析步驟詳見標準《水中碘-131的分析方法》（GB/T13272-1991）、《植物、動物甲狀腺中碘-131的分析方法》（GB/T13273-1991）和《牛奶中碘-131的分析方法》（GB/T14674-1993）。3、食品中I的分析。食品鮮樣在碳酸鉀溶液浸泡後炭化...
- 初次臨界試驗
並且，根據中子通量的變化情況，隨時調整控制棒組件的提升速度，每提升若干步(步數由反應性的每次增加量來確定)，應等待一段時間，測量中子計數，作棒位和計數率倒數曲線，並從曲線外推來預計I臨界值，在確保全全的前提下，再進行第二步操作。(2)減硼向臨界接近 減硼是通過化學和容積控制系統的上充泵，將補給水...
- 散射束錐角
羅蘭圓半徑隨分析元素而變，可分別為170，180，190和200mm，以獲得最高的計數率，提高了分析精度和靈活性。Noran公司還推出了稱為MAXray的X射線平行束光譜儀，將最新的X光學研究成果——準平行束整體X光透鏡置於試樣上的X射線發射點和分析晶體之間，提高了接收X射線的立體角，比一般WDS的強度提高了50倍左右。可分析...
