簡稱背散射分析。主要用於樣品中元素的定性、定量和深度分布分析。理論基礎是快速運動的入射離子受靜止的靶原子核的庫侖排斥作用而發生散射。通過對散射離子能量的測量，可以確定靶原子的質量。通過對散射產額的測量，可以定量地確定靶原子的含量。通過對散射離子的能譜測量，可以確定靶原子的深度分布。
盧瑟福背散射能譜分析編輯 鎖定 本詞條缺少名片圖,補充相關內容使詞條更完整,還能快速升級,趕緊來編輯吧!簡稱背散射分析。主要用於樣品中元素的定性、定量和深度...
盧瑟福背散射譜法是以兆電子伏特級的高能氫元素離子通過針形電極(探針)以掠射方式射入試樣,大部分離子由於試樣原子核的庫侖作用產生盧瑟福散射,改變了運動方向而...
測定大角度盧瑟福背散射離子的能譜,可對樣品所含元素進行定性、定量和深度分布分析,以及薄膜厚度的測定。 套用學科 材料科學技術(一級學科),材料科學技術基礎(二級學...
盧瑟福背散射能譜分析(RBS) 釋文:不過所測的是前向的反衝核。彈性反衝分析主要用於分析樣品表層的輕元素深度分布,現雖較多地使用重離子束,但利用能量為3百萬電子伏...
同一元素其所處的深度不同,散射粒子能量不同,通過散射粒子能譜測量可以無損地...盧瑟福背散射分析中入射帶電粒子的質量小於待分析元素的質量。反之,入射帶電...
離子束微分析中,介紹了入射離子束在固體中的散射、盧瑟福背散射譜、聚焦離子束儀和二次離子質譜。X射線束微分析中,介紹了同體對X射線的吸收、由此而來的光電子能...
第4章 表面和薄膜成分分析4.1 引言4.2 俄歇電子能譜4.3 X射線光電子譜4.4 二次離子質譜4.5 盧瑟福背散射參考文獻附錄第5章 掃描探針顯微學在半導體中的運用...
2.10盧瑟福背散射能譜法2.11電子微探針分析/能量分散X射線分析2.12其他方法2.13分析面積和深度2.14微測試實用要點2.15習題參考文獻與相關閱讀材料...
12.11.6雷射拉曼光譜(Raman)分析12.11.7X射線光電子能譜分析12.11.8俄歇電子能譜分析12.11.9二次離子質譜分析12.11.1盧瑟福背散射分析參考文獻...
10 6 2二次離子質譜分析儀10 6 3盧瑟福背散射分析儀10 6 4X射線光電子能譜儀參考文獻第11章真空鍍膜技術中的清潔處理11 1概述11 2真空鍍膜設備的清潔處理...
