《熱電離同位素質譜計校準規範(JJF 1120-2004)》內容簡介：《熱電離同位素質譜計校準規範(JJF 1120-2004)》由國家質量監督檢驗檢疫總局於2004—06—04發布，在2004—09—01開始實施。《熱電離同位素質譜計校準規範(JJF 1120-2004)》由中國標準出版社秦皇島印刷廠印刷，最後由新華書店北京發行所發行。《熱電離同位素質譜計校準規範(JJF 1120-2004)》在2004年8月出版了第1版，而在2010年12月做了第2次的印刷。
基本介紹
- 書名：熱電離同位素質譜計校準規範
- 作者：國家質量監督檢驗檢疫總局
- 出版日期：2004年8月1日
- 語種：簡體中文
- ISBN：J1809
- 外文名：Calibration Specification for Thermal Ionization Isotope Mass Spectrometers
- 出版社：中國計量出版社
- 頁數：12頁
- 開本：16
- 品牌：北京勁松建達科技圖書有限公司
內容簡介,圖書目錄,
內容簡介
《熱電離同位素質譜計校準規範(JJF 1120-2004)》由中國計量出版社出版。
圖書目錄
1範圍
2引用文獻
3術語和計量單位
3.1同位素豐度
3.2同位素豐度比
3.3質量範圍
3.4解析度
3.5峰形係數
3.6系統穩定性
3.7靈敏度（離子產率）
3.8豐度靈敏度
3.9測量重複性
3.10分餾效應
3.11質量歧視
3.12記憶效應
4概述
5計量特性
6校準條件
6.1實驗室環境
6.2校準設備
6.3同位素標準物質
6.4校準對象的檢查和調整
7校準項目和校準方法
7.1解析度校準
7.2靈敏度校準
7.3豐度靈敏度校準
7.4峰形係數校準
7.5系統穩定度校準
7.6內重複性校準
7.7外重複性校準
8校準結果的表達
9復校時間間隔
附錄A校準記錄格式
附錄B熱電離同位素質譜計校準證書格式
2引用文獻
3術語和計量單位
3.1同位素豐度
3.2同位素豐度比
3.3質量範圍
3.4解析度
3.5峰形係數
3.6系統穩定性
3.7靈敏度（離子產率）
3.8豐度靈敏度
3.9測量重複性
3.10分餾效應
3.11質量歧視
3.12記憶效應
4概述
5計量特性
6校準條件
6.1實驗室環境
6.2校準設備
6.3同位素標準物質
6.4校準對象的檢查和調整
7校準項目和校準方法
7.1解析度校準
7.2靈敏度校準
7.3豐度靈敏度校準
7.4峰形係數校準
7.5系統穩定度校準
7.6內重複性校準
7.7外重複性校準
8校準結果的表達
9復校時間間隔
附錄A校準記錄格式
附錄B熱電離同位素質譜計校準證書格式
