殷伯華,男,中國科學院大學專任教師。
基本介紹
- 中文名:殷伯華
- 國籍:中國
- 畢業院校:南京航空航天大學
- 學位/學歷:博士
人物經歷,教育背景,工作經歷,社會兼職,科研成果,專利成果,出版信息,科研項目,
人物經歷
教育背景
2007-04--2011-05 中國科學院研究生院 工學博士學位
2000-09--2003-07 北京工業大學 碩士學位
1992-09--1996-07 南京航空航天大學 學士學位
工作經歷
2007-04~2011-05,中國科學院研究生院, 工學博士學位
2003-08~現在, 中國科學院電工研究所, 高級工程師
2000-09~2003-07,北京工業大學, 碩士學位
1996-08~1999-10,中國航空精密機械研究所, 助理工程師
1992-09~1996-07,南京航空航天大學, 學士學位
社會兼職
2020-06-01-今,全國納米技術標準化技術委員會納米檢測分技術委員會, 委員
科研成果
專利成果
( 1 ) 一種納米位移台掃描運動控制系統及其實現方法, 2021, 第 1 作者, 專利號: 201810953777.8
( 2 ) 一種光學元件損傷的線上監測方法及系統, 2020, 第 1 作者, 專利號: 2020108664129
( 3 ) 一種微納米尺度耦合振動高分辨測量方法, 2015, 第 1 作者, 專利號: 201310642547.7
( 4 ) 掃描探針顯微鏡進針裝置及方法, 2014, 第 2 作者, 專利號: ZL 2012 1 0265549.4
( 5 ) 一種計量型掃描電子顯微鏡成像控制系統及掃描成像方法, 2014, 第 1 作者, 專利號: ZL 2012 1 0158927.9
( 6 ) 基於DSP-6713的M-SEM下位機軟體V1.0, 2014, 第 1 作者, 專利號: 2014SR042839
( 7 ) 柔性鉸鏈位移台耦合振動主動補償系統, 2011, 第 1 作者, 專利號: ZL2009 1 0084022.X
出版信息
發表論文
(1) 電子束選區熔化實時檢測方法研究, Study on real-time detection method for electron beam selective melting process, Journal of Physics: Conference Series, 2020, 第 2 作者
(2) 電子束選區熔化加工中的離焦和像散分析, Analysis on defocusing and astigmatism of electron beam selective melting machines, Journal of Physics, ICMTIM 2020, 2020, 第 2 作者
(3) 計量型掃描電子顯微鏡成像的微納米級振動, Micro-nanometerscale vibracation in imaging of metrological scanning electron microscope, 光學 精密工程, 2019, 第 4 作者
(4) 計量電鏡中納米位移台控制方法研究, Research on control method of nano-displacement table in metrology electron microscope, 電子顯微學報, 2019, 第 2 作者
(5) 電子束選區融合成像方法研究, Research on image monitoring method of electron beam selection melting, Materials Science and Engineering, 2019, 第 2 作者
(6) 基於雷射干涉方法的掃描電子顯微鏡線寬測量研究, Study of the Linewidth Measurement with Scanning Electron Microscope Based on Laser Interference principle, Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering,, 2019, 第 1 作者
(7) Optimal design of Micro-Nano Positioning Stage with wide range and high speed based on flexure structures, the 2017 International Symposium on Materials,Processing, Mechanical Engineering (MPME 2017), 2017, 第 2 作者
(8) 工業原子力顯微鏡快速進針系統的設計, 現代科學儀器, 2016, 通訊作者
(9) A traceable metrological method with nanometer scale resolution for micro-structure, Key Engineering Materials, 2015, 第 1 作者
(10) Micron and nanometer measuring methods based on metrological scanning electron microscope, Key Engineering Materials, 2014, 第 1 作者
(11) Large scanning range and rapid AFM for biological cell topography imaging, Key Engineering Materials, 2013, 第 1 作者
(12) 高速大掃描範圍原子力顯微鏡系統的設計, 光學 精密工程, 2011, 第 1 作者
(13) 大範圍掃描原子力顯微鏡自動調平控制技術, 儀器儀表學報, 2011, 第 2 作者
科研項目
( 1 ) 快速大範圍柔性鉸鏈位移台耦合振動機理和控制方法研究, 主持, 國家級, 2014-01--2017-12
( 2 ) 納米生物醫學共聚焦激發/掃描探針光聲成像系統, 參與, 部委級, 2014-10--2016-10
( 3 ) 現有關鍵技術人才”計畫項目, 主持, 部委級, 2015-01--2017-12
( 4 ) 基於納米位移平台的 SPM 掃描系統套用開發及光電子器件測量, 主持, 國家級, 2017-07--2019-06
( 5 ) 大功率、長壽命、多模式電子槍及陣列研製與增材製造中的套用, 參與, 國家級, 2018-05--2021-04
( 6 ) 電子束矽片圖形缺陷檢測設備研發與產業化, 參與, 國家級, 2018-01--2020-12
( 7 ) 生物醫學場發射掃描電子顯微鏡, 主持, 部委級, 2018-12--2021-11
( 8 ) 微區X射線能譜儀研製, 主持, 部委級, 2020-08--2022-08
( 9 ) 微納加工技術共性關鍵技術研發團隊, 主持, 部委級, 2020-01--2022-12
