《數字電子技術基礎》是2014年09月01日清華大學出版社出版的圖書，作者是唐朝仁、李姿、王紀。
基本介紹
- 書名：數字電子技術基礎
- 作者：唐朝仁、李姿、王紀
- ISBN：9787302366386
- 定價：39元
- 出版社：清華大學出版社
- 出版時間：2014.09.01
- 裝幀：平裝
- 開本：16開
內容簡介,圖書目錄,
內容簡介
本書依據套用型人才的培養目標，突出了數字集成器件的套用與實踐能力的培養，採用了新的體例結構和結構式描述方式，力求做到易讀、易懂、易學、易記。針對重點、難點內容，本書提供了豐富的例題，便於教學與自學。為了強化套用能力的培養，本書各章還提供了大量的套用實例。全書共9章，包括邏輯代數基礎、門電路、組合邏輯電路、觸發器、時序邏輯電路、脈衝產生與整形電路、半導體存儲器、數/模與模/數轉換器、數字電路的綜合套用。本書可作為套用型本科電氣信息類專業的數字電子技術基礎教材，也可供從事電子技術的工程技術人員參考。
圖書目錄
第1章邏輯代數基礎/
1.1概述/
1.1.1邏輯代數/
1.1.2數字電路/
階段測試/
1.2數制與編碼/
1.2.1數制的基本概念/
1.2.2常用數制/
1.2.3不同數制的標記/
1.2.4不同進制數之間的轉換/
1.2.5編碼/
階段測試/
1.3邏輯運算/
1.3.1基本邏輯運算/
1.3.2複合邏輯運算/
階段測試/
1.4邏輯代數的定律、定理、規則及常用公式/
1.4.1基本公式和定律/
1.4.2重要的定律和定理/
1.4.3基本規則/
1.4.4幾個常用的重要公式/
階段測試/
1.5邏輯函式的代數化簡法/
1.5.1化簡的標準和依據/
1.5.2化簡的基本方法/
階段測試/
1.6邏輯函式的卡諾圖化簡法/
1.6.1邏輯函式的標準與或表達式/
1.6.2用卡諾圖表示邏輯函式/
1.6.3用卡諾圖化簡邏輯函式/
1.6.4具有約束條件的邏輯函式的化簡/
階段測試/
1.7邏輯函式的表示方法及其相互轉換/
1.7.1邏輯表達式的5種形式/
1.7.2邏輯函式表示方法之間的相互轉換/
階段測試/
本章小結/
本章知識結構/
綜合練習/
第2章門電路/
2.1概述/
2.2半導體器件的開關特性/
2.2.1半導體二極體的開關特性/
2.2.2雙極型三極體的開關特性/
2.2.3MOS管的開關特性/
階段測試/
2.3TTL門電路/
2.3.1TTL與非門/
2.3.2其他類型的TTL門/
階段測試/
2.4CMOS門電路/
2.4.1CMOS非門/
2.4.2常用CMOS門電路/
2.4.3CMOS傳輸門/
2.4.4CMOS門電路與TTL門電路的比較/
階段測試/
2.5集成門電路的使用和套用/
2.5.1集成門電路的使用/
2.5.2CMOS門電路與TTL門電路的接口/
2.5.3門電路的套用舉例/
階段測試/
知識拓展/
本章小結/
本章知識結構/
綜合練習/
第3章組合邏輯電路/
3.1組合邏輯電路的特點和功能描述/
3.2組合邏輯電路的分析與設計方法/
3.2.1組合邏輯電路的分析方法/
3.2.2組合邏輯電路的設計方法/
階段測試/
3.3常用集成組合邏輯電路/
3.3.1加法器/
3.3.2編碼器/
3.3.3解碼器/
3.3.4數據選擇器/
3.3.5數值比較器/
階段測試/
3.4MSI組合邏輯電路的套用/
3.4.1用集成二進制解碼器設計組合
邏輯電路/
3.4.2用數據選擇器設計組合邏輯電路/
3.4.3用其他集成組合器件設計組合
邏輯電路/
3.4.4基於MSI的組合邏輯電路的分析/
階段測試/
3.5組合邏輯電路的競爭與冒險/
3.5.1競爭冒險的概念及其產生的原因/
3.5.2競爭冒險的判斷方法/
3.5.3消除競爭冒險的方法/
階段測試/
本章小結/
本章知識結構/
綜合練習/
第4章觸發器/
4.1概述/
4.2基本RS觸發器/
4.2.1用與非門組成的基本RS觸發器/
4.2.2用或非門組成的基本RS觸發器/
4.2.3集成基本RS觸發器/
4.2.4基本RS觸發器的套用/
階段測試/
4.3邊沿觸發器/
4.3.1邊沿D觸發器/
4.3.2邊沿JK觸發器/
4.3.3集成觸發器的套用/
階段測試/
4.4邊沿觸發器的功能分類/
4.4.1JK型觸發器/
4.4.2D型觸發器/
4.4.3T型觸發器/
4.4.4T′型觸發器/
4.4.5觸發器邏輯功能表示方法之間的轉換/
4.4.6不同功能觸發器的轉換/
階段測試/
本章小結/
本章知識結構/
綜合練習/
第5章時序邏輯電路/
5.1概述/
5.2時序邏輯電路的分析/
5.2.1時序電路分析的任務和步驟/
5.2.2同步時序電路的分析/
5.2.3異步時序電路的分析/
階段測試/
5.3時序邏輯電路的設計/
5.3.1時序電路設計的任務和步驟/
5.3.2同步時序電路的設計/
階段測試/
5.4常用的時序邏輯電路/
5.4.1暫存器/
5.4.2計數器/
階段測試/
5.5集成時序邏輯電路的套用/
5.5.1用集成計數器組成N進制計數器
的設計/
5.5.2集成計數器組成N進制計數器的分析/
5.5.3移位暫存器型計數器/
5.5.4順序脈衝發生器/
5.5.5序列信號發生器/
階段測試/
本章小結/
本章知識結構/
綜合練習/
第6章脈衝產生與整形電路/
6.1概述/
階段測試/
6.2555定時器的電路結構及其邏輯功能/
6.2.1555定時器的電路結構/
6.2.2555定時器的邏輯功能/
6.2.3555定時器的套用舉例/
階段測試/
6.3施密特觸發器/
6.3.1由555定時器構成的施密特觸發器/
6.3.2集成施密特觸發器/
6.3.3施密特觸發器的套用/
階段測試/
6.4單穩態觸發器/
6.4.1由555定時器構成的單穩態觸發器/
6.4.2集成單穩態觸發器/
6.4.3用集成施密特觸發器組成的單穩態
觸發器/
6.4.4單穩態觸發器的套用/
階段測試/
6.5多諧振盪器/
6.5.1用555定時器構成的多諧振盪器/
6.5.2用施密特觸發器構成的多諧振盪器/
6.5.3多諧振盪器的套用/
知識拓展/
階段測試/
本章小結/
本章知識結構/
綜合練習/
第7章半導體存儲器/
7.1概述/
7.2隻讀存儲器/
7.2.1掩膜唯讀存儲器/
7.2.2可程式唯讀存儲器/
7.2.3可多次編程的唯讀存儲器/
7.2.4隻讀存儲器晶片/
7.2.5隻讀存儲器的套用/
階段測試/
7.3隨機存儲器/
7.3.1隨機存儲器的結構/
7.3.2RAM的靜態存儲單元/
7.3.3RAM的動態存儲單元/
7.3.4常用的RAM集成晶片/
階段測試/
7.4存儲器容量的擴展/
7.4.1位數的擴展方法/
7.4.2字數的擴展方法/
7.4.3字數與位數的擴展方法/
階段測試/
知識拓展/
本章小結/
本章知識結構/
綜合練習/
第8章數/模與模/數轉換器/
8.1概述/
階段測試/
8.2數/模轉換器/
8.2.1DAC的基本概念/
8.2.2DAC的主要技術指標/
8.2.3常見的DAC電路/
階段測試/
8.3模/數轉換器/
8.3.1ADC的基本概念/
8.3.2ADC的電路組成及其工作原理/
8.3.3ADC的主要技術指標/
8.3.4常見的ADC電路/
8.3.5集成ADC/
階段測試/
8.4DAC和ADC的套用/
8.4.1數據採集系統/
8.4.2數據控制系統/
8.4.3ADC和DAC的選擇/
階段測試/
本章小結/
本章知識結構/
綜合練習/
第9章數字電路的綜合套用/
9.1數字電路的設計流程/
9.2常用的數字電路/
9.2.1自動復位電路/
9.2.2光電耦合電路/
階段測試/
9.3數字電子秒表/
9.3.1數字電子秒表的組成和工作原理/
9.3.2數字電子秒表的安裝與調試/
階段測試/
9.4數字電子鐘/
9.4.1數字電子鐘的組成和工作原理/
9.4.2數字電子鐘的安裝與調試/
階段測試/
9.5編碼電子鎖/
9.5.1編碼電子鎖的組成和工作原理/
9.5.2編碼電子鎖的安裝與調試/
9.6數字溫度計/
階段測試/
9.7數字頻率計/
9.7.1數字頻率計的組成/
9.7.2數字頻率計的工作原理/
9.7.3數字頻率計的調試/
階段測試/
9.8數字電容測試儀/
9.8.1數字電容測試儀電路和工作原理/
9.8.2電容測試儀的調試/
階段測試/
本章小結/
本章知識結構/
綜合練習/
附錄A常用數字積體電路型號索引/
附錄B部分階段測試與綜合練習答案/
參考文獻/
