射線譜儀器是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2011年11月17日啟用。
基本介紹
- 中文名:射線譜儀器
- 產地:美國
- 學科領域:地球科學
- 啟用日期:2011年11月17日
- 所屬類別:分析儀器

射線譜儀器是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2011年11月17日啟用。
射線譜儀器是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2011年11月17日啟用。技術指標1. 效率、解析度、峰康比和峰形指標 晶體類型:P型高純鍺,同軸型,端窗直徑95 mm, PopTop可拆卸冷指結構 探測效率:大於70%...
X射線譜儀由X射線譜儀探測器、太陽監測器和電控箱三部分構成,主探測器採用Si-PIN組成半導體探測器陣列,在1keV~60keV能區,實現對全月面成像觀測,即得到X射線月貌圖,其中,在10keV~60keV能段將是人類首次在環月軌道上對月面的觀測。儀器簡介 X射線譜儀設計有20路探測器,是此次載荷中探測器路數最多的...
X射線譜, 波長大致介於700~0.1埃範圍內的電磁輻射,X射線譜由連續譜和標識譜兩部分組成,標識譜重疊在連續譜背景上,連續譜是由於高速電子受靶極阻擋而產生的軔致輻射,其短波極限λ0由加速電壓V決定:λ 0 = hc /( ev )為普朗克常數,e為電子電量,c為真空中的光速。標識譜是由一系列線狀譜組成,它們...
X射線螢光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線螢光(X-ray fluorescence,XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用於元素分析和化學分析,特別是在金屬,玻璃,陶瓷和建材的調查和研究,地球化學,法醫學,...
X射線波譜儀,構造原理與X射線螢光譜儀基本相同,只是用電子而不是用X射線作為激發源。X射線波譜儀的特點是解析度高,通常為5—10eV,且可在室溫下工作,因此分析的精度高而檢測極限低。此外,根據布拉格定理2dsinθ=λ,採用晶面間距d大的分光晶體,可以分析標識X射線波長為λ的硼、碳、氮、氧等輕元素。但是X...
常用的EDX探測器是矽滲鋰探測器。當特徵X射線光子進入矽滲鋰探測器後便將矽原子電離,產生若干電子-空穴對,其數量與光子的能量成正比。利用偏壓收集這些電子空穴對,經過一系列轉換器以後變成電壓脈衝供給多脈衝高度分析器,並計數能譜中每個能帶的脈衝數。原理 一個內層電子被激發而出現一個空穴,使整個原子體系處於...
γ射線譜儀(CE1-GRS)探測數據難以從譜形特徵直接進行定性分析的問題,提出採用噪聲調整的奇異值分解(NASVD)方法提取CE1-GRS數據中相互正交的譜線主成分,分析月表各區域對應譜線的低序層譜線中的峰信號,鑑別各峰信號對應的能量值是否等於特定元素的特徵γ射線能量來確定月表各區域的元素種類。 方法能夠識別出的月...
X射線能譜是一種用於物理學、化學、材料科學、考古學領域的分析儀器。技術指標 與掃描電子顯微鏡配合使用,用於檢測Be以上的所有元素,最大輸入計數率可達500000。主要功能 進行材料表面微區成分的定性和定量分析,在材料表面做元素的面、線、點分布分析。可用於高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體...
ESCALAB 250Xi型光電子能譜儀是一台多功能、高性能的表面分析儀器,用於研究固體材料表面的元素種類、化學價態以及相對含量,結合離子刻蝕技術可以獲得元素及化學態的深度分布信息;通過成像技術可以獲得元素及化學態的面分布信息;微聚焦X射線源或電子束可以獲得微區表面信息;紫外光電子能譜可用於研究固體樣品的價電子...
X射線光譜衍射儀是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器,於2014年08月01日啟用。技術指標 X射線是一種波長(0.06-20nm)很短的電磁波,能穿透一定厚度的物質,並能使螢光物質發光、照相機乳膠感光、氣體電離。主要功能 廣泛套用於冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學,材料生產等領域。
X射線螢光能譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2014年6月9日啟用。技術指標 1 分析元素範圍:Na11~Bk97 2 能量解析度(Mn-Ka):優於140eV,在30,000cps下。嚴格依照ISO15632國際標準測量 3 可處理最大計數率:850,000CPS,最大輸出計數率>350,000CPS, 4 採用多級毛細管X射線聚焦,最小束斑達30um。 5...
2、X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景,軟體可自動過濾背景對分析結果的干擾,從而能確保對任何塑膠樣品的進行快速準確的分析。3、當某些元素的電子由高等級向低等級躍遷時釋放的能量相近,會使此時譜圖的波峰重疊在一起,由 此產生了重疊峰。SCIENSCOPE自行開發的軟體自動剝離重疊峰,確保了元素分析...
X射線光譜系統 X射線光譜系統是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於1981年12月3日啟用。技術指標 X射線發生器:3kW或18kw, 額定電壓:20-60kV, 額定電流:2-80mA, 穩定度:±0.005%以內;X射線防護。主要功能 物相分析。
X射線吸收式光譜儀 X射線吸收式光譜儀是一款光譜儀。
阿爾法粒子X射線光譜儀(APXS),是一種0.7公斤重的小型儀器。發展歷史 2023年7月14日下午,搭載“月船3號”探測器的GSLV MkIII運載火箭從印度東南部安得拉邦的航天發射場發射升空。“月船3號”探測器包括著陸器“維克拉姆”號和月球車“普拉吉安”號。“普拉吉安”攜帶兩台光譜儀,其中之一是阿爾法粒子X射線光譜...
X射線分析器 X射線分析器,對X射線波長進行分析的儀器。
掃描式電子顯微鏡-X射線能譜儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2010年3月17日啟用。技術指標 硬體:倍率:15~100000,觀察範圍:9(H)×7(V)mm~1.3(H)×1(V)mm,解析度:8nm,觀察兩次電子圖像和反射電子圖像,觀察模式:高真空、低真空(3-260Pa),顯示解析度:觀察640×480,攝影...
能譜和射線分析儀器 能譜和射線分析儀器是2003年公布的機械工程名詞。定義 利用能譜法和X射線分析原理對物質的成分、結構以及表面物化特性等進行分析的儀器。出處 《機械工程名詞 第三分冊》。
X射線螢光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2017年12月1日啟用。技術指標 X射線光管陽極材料:銠靶 最大功率:4kW 最大額定電壓:60kV 最大額定電流:160mA 樣品最大尺寸:直徑51.5mm,高40mm 分析腔體溫度:30±0.05℃ 分析軟體: SuperQ 5.0。主要功能 檢測項目:組分 可測元素範圍:元素序數9號...
順序型自動x射線譜儀}}uential automatic x-ray sper-t rometer屬於單道自動化X射線譜儀的一種。它是通過編制好的程式,可白動凋整一系列預選的分析線位置。能針對某待測元素特定譜線自動尋其位置進行測量,並對試樣和標樣進行預寧計數累積。該儀器可用於日常快速分析和研究。
X型射線螢光光譜儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2012年9月30日啟用。技術指標 每個元素測量時間在2-10秒;角度準確度優於±0.001°,角度重現性優於±0.0001°。主要功能 主要用於特種合金材料分析檢測,具有選擇性好、方法簡便、分析速度快、準確度高的特點,可保證產品質量。
波長色散式X射線螢光光譜儀是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的分析儀器,於2012年10月23日啟用。技術指標 布拉格角範圍:13到98度28波 分析晶體:氟化鋰200,可選其他晶體 元素範圍:Kα 22-48(鈦到銀) 元素範圍:Lα 56-92(鋇到鈾) 準直器: 20千分之一發散 (探源) 檢測器:10千分之一接收 ...
X射線衍射光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2011年4月14日啟用。技術指標 初級準直器:3位以上程式控制, 適合重輕元素。 晶體選擇:≥5塊晶體, 必須含有2塊彎晶及人工多層膜晶體。 多道分析器:總道數≥500道 從光管陽極到樣品的距離≤16mm,以充分利用光管的X射線發射強度,保證測量靈敏度。 位置面罩...
掃描性X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2008年11月15日啟用。技術指標 四位準直器交換器,配0.23°,0.46°兩個準直器; 自動進樣器:60位X-Y二維全自動機器人進樣器; 高壓發生器: 穩定性:外電源波動±1%時,輸出波動為≤±0.0005%; X射線光管: 類型:端窗Rh靶陶瓷光管, Be窗...
X射線螢光光譜儀Axiosmax是一種用於地球科學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2016年11月2日啟用。技術指標 1.允許元素分析範圍:Be(4)-U(92) 2. 測角儀重現性:0.0001度。主要功能 (1)樣品中不同元素的定性、定量分析、以及半定量分析 (2)元素配位分析 (3)固體、粉末、熔珠、液體...
能量色散譜儀energy dispersive spectrometer; EDS是x射線能譜分析的一種儀器。工作原理 能量色散譜儀(energy dispersive spectrometer: EDS)是x射線能譜分析的一種儀器。在電子與物質相互作用時,採用能聚焦的入射電子可以激發初級x射線,不同元素髮射出來的特徵x射線波長不同,能量也不同。利用x射線能量不同而展譜...
X射線光柵光譜儀 X射線光柵光譜儀是一種用於物理學領域的分析儀器,於2017年3月31日啟用。技術指標 0.6-20nm/0.1nm。主要功能 測量x射線輻射信號。
X射線光電子能譜分析儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2015年3月31日啟用。技術指標 Ultimate energy resolution on Ag FWHM≤0.5 eV;XPS energy resolution on PET FWHM≤0.85eV。主要功能 主要用於對樣品表面進行元素種類測定、同種元素不同化學狀態定性及定量分析等方面的表征。XPS的工作原理是用光子能量...
順序式X射線螢光光譜儀,成份分析儀器,主要用於各種岩礦和建材的分析。主要用途 分析元素範圍:F-U;分析含量範圍:微量(ppm)一常量(%)主要用於各種岩礦和建材的分析,如:矽酸鹽、矽鋁酸鹽、碳酸鹽、磷灰石、鋁土礦、水泥、陶瓷、土壤、煙塵粒的主元素及微量元素的分析。主元素(氧化物形式):SiO2、TiO2、Al2...
3、功能部件的小型化和一體化隨著電子元件的集成化和功能化,現代 X射線光光譜儀的各部件也不斷小型化,向機體一體化發展。譜儀系統由複雜、笨重向小型、輕便過度,手持智慧型光譜儀技術逐漸成熟。在國家科技部的支持下,由天瑞儀器承擔的2009年省科技成果轉化專項資金:“手持智慧型化能量色散X射線螢光光譜儀開發及產業...
