孫秀斌

孫秀斌，男，副教授，生於1968年，研究生學歷，博士學位。2004年6月畢業於電子科技大學自動化工程學院，獲測試計量技術及儀器專業博士學位，先後在中興通訊和TCL通訊公司工作，2007年4月調入成都信息工程學院。

基本介紹

• 中文名：孫秀斌
• 國籍：中國
• 出生日期：1968年
• 畢業院校：電子科技大學自動化工程學院

個人簡介

所在部門：成都信息工程學院電子工程學院(大氣探測學院)

職 稱：副教授

教育科研

研究方向

1．高速數位訊號處理

2．信息獲取與處理

3．雷電科學與技術

在研項目

基於USB2.0的四通道邊緣掃描控制器設計，校級課題，項目負責人

完成項目

1．基於聯合時頻分析和神經網路的非線性模擬電路測試研究，國家自然科學基金項目（代碼：60372001），第三主研人，2006年12月完成。

2．嵌入計算機可測試性設計技術，總裝備部，第六主研人，2005年12月完成

3．邊緣掃描測試技術研究，總裝備部，第四主研人，2003年12月完成

發表論文

數字積體電路的混合模式內建自測試方法，《儀器儀表學報》，2006年4月，核心期刊（EI收錄），第2作者

減少SOC測試時間的測試結構配置與規劃，《儀器儀表學報》，2005年8月，核心期刊（EI收錄），第3作者

模擬電路故障診斷中線性組合矩陣的最簡形式，《系統工程與電子技術》，2005年5月，核心期刊（EI收錄），第1作者

IP芯核測試回響的零混疊空間壓縮，《儀器儀表學報》，2005年4月，核心期刊（EI收錄），第2作者

一種新的模擬積體電路輸出參數測試方法，《儀器儀表學報》，2004年12月，核心期刊（EI收錄），第1作者

基於微分靈敏度計算的模擬積體電路故障定位，《儀器儀表學報》，2004年12月，核心期刊（EI收錄），第1作者

模擬積體電路的測試節點選擇，《電子與信息學報》，2004年4月，核心期刊（EI收錄），第1作者

基於神經網路信息融合技術的模擬電路故障診斷，《電路與系統學報》，2007年10月，核心期刊，第2作者