大平台檢測顯微鏡

大平台檢測顯微鏡 是專為IT行業大面積積體電路，分為XLE-1、XLE-2、XLE-3三種型號。晶片的質量檢測而設計開發製造的。主體為：正置式、三目鏡筒，比傳統的顯微鏡更適合於觀察。上部安裝彩色攝像機連線彩色監視器直接觀察。可連線計算機列印報告、照片或連線數位相機，照相機直接拍照，還可以直接進行圖像記錄，並建立技術檢測檔案，存儲、查詢，可省去複雜煩瑣的攝影，洗印等暗室工作，大大的提高了工作效率。

基本介紹

• 中文名：大平台檢測顯微鏡
• 放大倍數：40倍至500倍
• 機械筒長：160mm
• 目鏡：三目鏡  (雙目鏡)

基本特點

1、放大倍數：40倍至500倍。

2、超大型載物台，樣品可作大範圍的縱、橫方向快、慢速移動，擴大檢測領域的使用範圍。

3、可以與OVM-TM軟體搭配使用。

技術參數

1、機械筒長 160mm

2、物鏡

放大倍數	數值孔徑	有效工作距離（mm）	介質
4×	0.10	17.912	乾
10×	0.25	6.544	乾
20×	0.40	1.05	乾
40×	0.65	0.736	乾

3、目鏡

放大倍數	焦距	視場直徑	備註
10×	25	18
12.5×	25	14	選配

4、放大倍數 40×--500×

5、載物台面積 350mm×255mm 縱向移動範圍---200mm 橫向移動範圍---200mm

6、粗微動調焦範圍 25mm，微調轉動一圈樣品升降0.2mm，格值0.002mm

7、光源 鎢鹵素燈6V20W，內藏式連續調光電源。

8、物鏡轉換器 四孔式 (三孔式)。

9、目鏡筒 三目鏡 (雙目鏡)。

套用領域

廣泛套用於電子、冶金、機械、化工、科研、院校等部門，以及金相技術檢驗，失效分析等。