固體核徑跡探測

固體核徑跡探測、slid state nurlear track deurtinn利用帶電粒子穿過絕緣介質時，沿其軌跡會造成原子尺度L的輻射損傷這種現象建立的帶電粒子探測方法。如果損傷密度足夠高，則經過化學蝕刻等方法處理後，便可用普通光學顯微鏡加以觀察。叮用柞固體核徑跡探測器的材料很多。包括塑膠、雲母、玻璃、磷灰石等萬一物。各種材料中不同帶電粒了留卜的徑跡的形狀、尺寸各不相同，藉此可分辨帶電粒子的電荷、質量和能量等。這一探測粒子的方法是由f'.l3.Price.IZ. M.Walker和ft . L . Fleishcr於2l}世紀6U年代初首先提出的，現已在固體物理、化學、生物、天體物理、找J}、考石、地學等多個學科領域中得到廣泛套用。