全息干涉計量Holographic Interferometry是利用全息照相的方法來進行干涉計量，與一般光學干涉檢測方法很相似，也是一種高精度、無損、全場的檢測方法，靈敏度和精度也基本相同，只是獲得相干光的方式不同。
基本介紹
- 中文名：全息干涉計量
- 外文名：Holographic Interferometry
- 含義：用干涉進行計量或量度或檢測
- 主要有：分振幅法和分波前法
簡介,套用說明,
簡介
一般光學干涉檢測方法獲得相干光的方式主要有分振幅法和分波前法。分振幅法是將同一束光的振幅分為兩個部分，或多個部分。如麥可遜干涉儀、法布里-珀羅干涉儀；分波前法是將一束光的同一波前為兩個部分，或多個部分。如雙縫干涉、多縫干涉、費涅爾雙反射鏡、費涅爾雙稜鏡等。全息干涉計量術則是將同一束光在不同時間的波前來進行干涉，可以看作是一種波前的時間分割法。其主要特點是：相干光束由同一光學系統所產生，因而可以消除系統誤差。
對於一般光學干涉檢測方法，物光波是與一個作為標準的參考光波（如一個平面光波）相比較。這種情況下，物光會受到包圍待測物體的介質的影響而產生附加條紋，使最後得到的條紋圖樣變得複雜化，因此，對檢測環境、條件要求非常嚴格。而在全息干涉計量的情況下，它是將同一束光在不同時間的波前來進行干涉，相干光束是由同一光學系統所產生，因而包圍介質的欠缺引起的光程變化會自動抵消，故這種方法與包圍待測物體的介質的光學質量無關；同樣的原因，它對光學元件的精度要求比一般光學干涉檢測方法低得多，因而，設備的費用也較低。由於全息干涉計量術主要檢測物體的變化，它曾經被稱為“差分干涉計量術”。
套用說明
全息干涉計量是全息技術最重要、最成功的套用之一。根據其曝光方法的不同，可分為三種。一是單曝光法或實時法，它利用單次曝光形成的全息圖的再現象與測量時的物光之間的干涉進行檢測；二是雙曝光法，它利用兩次不同時刻的曝光形成的兩個再現象之間的干涉進行檢測；三是連續曝光法，它利用持續曝光形成的一系列再現象之間的干涉進行檢測。這三種方法的原理與具體方法將在另外的詞條中分別介紹。
