《光電材料與器件測試評估技術》是2014年鄭州大學出版社出版的圖書，作者是喬建良。
基本介紹
- 書名：光電材料與器件測試評估技術
- 作者：喬建良
- ISBN：978-7-5645-1488-4
- 頁數：192
- 定價：￥19.5
- 出版社：鄭州大學出版社
- 出版時間：2014-9
- 裝幀：平裝
- 開本：16
- 字數：299 千字
- 書號：978-7-5645-1488-4
- 版次：1
內容簡介
光電陰極與光敏電阻分別是外光電效應和內光電效應原理在器件領域的成功套用範例。現代智慧型測試技術伴隨著計算機技術、自動控制技術的發展取得突破性進展，已被成功套用於光電器件的研製和生產中。本書以光電陰極與光敏電阻為例，詳細介紹了智慧型測試技術在光電器件的研製和生產中的套用。書中從GaN光電陰極光電發射機理，GaN光電陰極製備技術，GaN光電陰極光譜回響測試，GaN光電陰極穩定性測試評估，光敏電阻檢測裝置硬體設計，光敏電阻檢測裝置軟體設計等方面進行了詳細的介紹。最後總結並展望了以光電陰極與光敏電阻為代表的光電器件的現代化測試評估技術。
