β射線測厚

β射線測厚(β-ray thickness measurement)是根據β射線(β粒子流)透過被測物體產生的衰減與被測物體的厚度成正比的原理測量板帶材的厚度。

β射線測厚儀常用的β射線源和測量範圍列於表中。在測量極薄板帶材時,X射線因能量過高而不便使用,β射線則適用於0.8mm以下的帶等金屬材料。

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