X-射線螢光分析顯微鏡是一款顯微鏡，掃描範圍為512×512μm～100×100μm。
基本介紹
- 中文名：X-射線螢光分析顯微鏡
- 元素分析範圍：Na11～U92
- 儀器靈敏度：幾十ppm
- 掃描範圍：512×512μm～100×100μm
主要用途： 1.固體、液體樣品的成分、結構及成份分布 2.Na-U元素的定性及定量分析 3.可做幾種圖像：①元素分布圖；②透射X光像；③光學顯微鏡像 4.相分析（相結構）地質考古、寶石鑑定、電子元器件、積體電路、刑事偵察、物證鑑定、金屬、非金屬材料成份分析及元素分布、環境監測、生物醫學
儀器類別： 03040108 /儀器儀表 /光學儀器 /顯微鏡 /螢光顯微鏡
指標信息：X射線束斑直徑：10μm或100μm 最大樣品尺寸：100×100×30mm 掃描範圍：512×512μm～100×100μm 射線對樣品：無損傷、無污染
儀器特點：
1.大氣狀態下分析，不需對樣品進行處理
2.不破壞、不污染分析貴重樣品
3.同時分析樣品的成份和結構
4.可對樣品進行點分析和從微觀級到巨觀級的面分析
5.能夠對Na～U的元素同時進行分析，並可同時記錄31種元素的測定結果
