X射線多晶衍射數據Rietveld精修及GSAS軟體入門

《X射線多晶衍射數據Rietveld精修及GSAS軟體入門》是2016年中國建材工業出版社出版的圖書，作者是鄭振環、李強。

書籍信息

• 著譯者：鄭振環，李強
  
• 版次：1
  
• 出版日期：2016-06
  
• 開本：16
  
• 出版社：中國建材工業出版社
  
• 裝幀：平裝
  
• ISBN：9787516014561
  
• 頁數：120
  

內容簡介

Rietveld法全譜擬合已成為X射線多晶衍射修正晶體結構的重要方法。本書共分為四章，側重從操作示例介紹Rietveld法的基本原理和精修過程。

第1章簡要介紹Rietveld法的發展概況和基本原理。第2章介紹精修軟體EXPGUI-GSAS的安裝和使用界面。第3章介紹Rietveld法X射線多晶衍射數據的實驗測試，並以簡單例子演示EXPGUI-GSAS精修過程以及結果的提取和圖譜繪圖。第4章給出了三個提高練習示例，包括創建儀器參數檔案、含非晶混合物的定量分析以及占位修正等。

《X射線多晶衍射數據Rietveld精修及GSAS軟體入門》一書具有很強的實用性，可以作為材料、化學以及地質等領域學習X射線多晶衍射Rietveld法結構精修和GSAS軟體的研究人員的入門參考書，也可以作為本科生、研究生教學的實驗教材。

圖書目錄

第1章　Rietveld法結構精修

1.1　Rietveld法結構精修發展概況

1.2　Rietveld法基本原理

1.3　參數修正順序與結果判據

1.3.1　參數修正的順序

1.3.2　精修的數值判據

1.3.3　精修的圖示判斷

1.4　精修過程出現的問題和對策

1.5　Rietveld法結構精修的套用

1.5.1　修正晶體結構

1.5.2　相變研究和點陣常數測定

1.5.3　物相定量分析

1.5.4　晶粒尺寸和微應變測定

第2章　EXPGUI-GSAS軟體安裝與界面介紹

2.1　GSAS軟體簡介

2.2　EXPGUI-GSAS軟體的安裝

2.3　EXPGUI-GSAS軟體界面介紹

2.3.1　選單欄

2.3.2　選項卡界面

2.3.3　EXPGUI幫助內容

第3章　EXPGUI-GSAS結構精修起步

3.1　精修前的準備工作

3.1.1　衍射數據的測定

3.1.2　衍射數據的轉換

3.1.3　初始結構的獲取

3.2　EXPGUI精修簡單示例

3.2.1　生成EXP檔案

3.2.2　精修過程

3.2.3　常見問題

3.3　精修結果提取與繪圖

3.3.1　精修結果提取

3.3.2　精修圖譜繪圖

第4章　EXPGUI-GSAS提高練習

4.1　儀器參數檔案的建立

4.1.1　基本知識

4.1.2　操作過程

4.2　物相（含非晶）定量分析

4.2.1　基本原理

4.2.2　衍射數據測試

4.2.3　精修過程

4.3　Le Bail法擬合以及約束的使用

4.3.1　問題描述

4.3.2　精修過程

參考文獻