該設備是一款適用於納米、亞微米、微米、毫米級顆粒的全量程寬分布顆粒粒度測試的智慧型型雷射粒度分析儀。它融入了新的測試技術，拓寬了其測試範圍，使具有強大的普遍適用性，雙光束專利技術則保證了微小顆粒測試精度，可以滿足不同行業對雷射粒度儀的測試要求。
基本介紹
- 中文名：Winner2008A雷射粒度分析儀
- 外文名：Winner2008A雷射粒度分析儀
- 適用：於納米、亞微米、微米
- 拓寬：了其測試範圍
特點
1.全新的測試原理：該款儀器在採用經典Mie氏散射原理、會聚光傅立葉變換專利技術以及無約束自由擬合數據處理技術的基礎上，柔和了頻譜放大技術，從而在有限的空間內輕而易舉的拓寬了測試範圍；
2.操作和校準全自動化：使用過程中，只要針對所測樣品的特性設定好測試條件後，分散、測試、沖洗等一系列操作過程便可自動完成，並得出準確、可靠的測試結果。另外，利用三維對中系統調節光電探測器，在避免人工調試所帶來的繁瑣的同時，對整個光路系統可隨時校準，保證其準確對中，從而對測試結果的準確度和穩定性提供了有力的保障；
3.有效的分散循環系統：在配有常規的超聲和攪拌分散裝置外，還針對寬分布樣品和比重較大的顆粒，專門配備了大流量循環泵，以防止因大顆粒丟失而導致測試結果不準確的現象。因而，該儀器在不同的粉體行業更具有廣泛適用性；
4.權威的測試標準：採用多種微米、亞微米及納米級國家粒度標準物質，對儀器進行全量程校準標定，從而保證了在其整個測量範圍之內得到真實、準確的測試結果。
