Nikon L200N

Nikon L200擁有CFI60光學系統用於積體電路檢查顯微鏡，由此獲得全所未有的高對比圖像。使得物鏡不僅工作距離更長，而且數值孔徑更高：符合SEMI S293A，S8-95S設計；利用計算機輔助工程系統，對機身進行防震設計；具有全面的防污染措施。

基本介紹

• 中文名：Nikon L200N
• 倍率：25×-1500×
• 移動載物台：L2-S8 8x8 
• 晶片：8寸

運用範圍

科學研究分析，材料分析，微電子觀察，TFT 液晶檢查，4寸 5寸 6寸 8寸半導體晶圓檢查。

技術參數

◆可以選配專業偏光（Polarizer）

◆可以選配微分干涉稜鏡（DIC）

◆可以附加NIKON 專業數位相機及CCD影像擴展

◆可以附加專業金相測量軟體實現電腦測量

◆可以選配專業半導體8寸晶片自動裝載機配合使用，提高測試檢查的自動化。